目錄:深圳東儀精工設(shè)備有限公司>>光學(xué)儀器及設(shè)備>>透過率測(cè)試儀器>> OVS-Micro透過率測(cè)試儀
| 參考價(jià) | ￥ 140000 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
| ￥140000 |
| ≥1臺(tái) |
更新時(shí)間：2024-10-29 13:17:52瀏覽次數(shù)：2069評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,航天,汽車,綜合 |
|---|
透過率測(cè)試儀優(yōu)點(diǎn)：
儀器精密小巧，攜帶方便。
測(cè)試速度極快，一秒出結(jié)果，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。
極小樣品的透過率檢測(cè)。
優(yōu)異的波長(zhǎng)重復(fù)性達(dá)0.1納米。
高精度的光度測(cè)定。
小化雜散光。
透過率測(cè)試儀軟件特點(diǎn)：
智能化軟件操作:可自定義測(cè)量方式和角度，實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。
譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖，批量保存測(cè)量結(jié)果，記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間，能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，很大程度地方便了譜圖的管理和分析。
自定義測(cè)量方案:用戶可以自行定義測(cè)量的方案，同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測(cè)更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。
譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果，用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除，還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。
CIE顏色測(cè)量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長(zhǎng)等。
數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱。
技術(shù)參數(shù)：
型號(hào) | OVS-Micro（I型） | OVS-Micro（II型） |
測(cè)量系統(tǒng) | 單光束 | 單光束 |
探測(cè)器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢出限 | 0.1% | 0.01% |
相對(duì)檢測(cè)誤cha | ﹤0.6%（410-900nm） | ﹤0.4%（410-100nm） |
檢測(cè)范圍 | 380-1000nm | 360-1100nm |
波長(zhǎng)重復(fù)率 | 1nm | 1nm |
信噪比（全信號(hào)） | 250：1 | 450：1 |
樣品測(cè)試平臺(tái) | X，Y軸可調(diào) | |
光源 | 鹵素鎢燈 | |
孔徑大小 | 0.1mm/0.3mm/0.5mm/0.8mm/1.0mm可選 | |
樣品大小 | ≥ 0.5mm | |
測(cè)量時(shí)間 | ﹤1s | |
對(duì)焦方式 | 數(shù)字相機(jī)視頻對(duì)焦 | |
物鏡 | 5X | |
電源供應(yīng)器 | 5V/6W，可調(diào)節(jié)亮度，燈泡壽命5000小時(shí) | |
操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
體積/重量 | 30cm*29cm*35cm/8.5kg | |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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