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          韓國Micro Pioneer X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

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          • 韓國Micro Pioneer X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀
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          • 型號(hào) XRF 2000
          • 品牌
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 深圳市
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          更新時(shí)間:2023-06-14 13:57:43瀏覽次數(shù):1842

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          1. H-Type :密閉式樣品室,方便測(cè)量的樣品較大,高度約100mm以下。 2. L-Type : 密閉式樣品室,方便測(cè)量 樣品較小,高度約30mm以下。 3. PCB-Type : 開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)

          詳細(xì)介紹

           

           

          韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

          產(chǎn)品介紹
          螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。  
          XRF-2000 系列分為以下三種:  
          1. H-Type :
          密閉式樣品室,方便測(cè)量的樣品較大,高度約100mm以下。  
          2. L-Type : 
          密閉式樣品室,方便測(cè)量 樣品較小,高度約30mm以下。  
          3. PCB-Type : 
          開放式樣品室,方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè) 。   
          應(yīng)用 : 
          測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測(cè)元素的范圍: Ti(22)~U(92 )   
          行業(yè) : 
          五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。   
          特色 :
            
          非破壞,非接觸式檢測(cè)分析,快速精準(zhǔn)。 
            
          可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層 (五層厚度   底材 ) 并可同時(shí)分析多種元素。 
            
          相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報(bào)告  
            
          全系列*設(shè)計(jì)樣品與光徑自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)。 
            
          標(biāo)準(zhǔn)配備溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。 
          準(zhǔn)直器口徑多種選擇,可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。  
            
          移動(dòng)方式:全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制,減少人為視差 。  
            
          *2D3D或任意位置表面量測(cè)分析。 
            
          雷射對(duì)焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 
          標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式,亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告 。 
          光學(xué)2 0X 影像放大功能,更能精確對(duì)位。  
          單位選擇: mils  uin 、 mm  um 。 
            
          優(yōu)於美製儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的*優(yōu)勢(shì)。  
            
          儀器正常使用保固期一年,強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。 
            
          測(cè)試方法符合 ISO 3497  ASTM B568  DIN 50987 
           
          韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測(cè)厚兩用的XRF-2000R型號(hào)
          Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測(cè)厚儀及ROHS元素分析儀
          是在XRF-2000系列測(cè)厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測(cè)的功能,
          其物點(diǎn)為:高分辨率,固態(tài)探測(cè)器; 可分析超薄樣品
          分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;
          可測(cè)量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;
          電鍍?nèi)芤悍治觯?/div>
          定性分析超過30種元素,能夠測(cè)量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;
          貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);
          自動(dòng)過濾器,多準(zhǔn)直儀(五個(gè)準(zhǔn)直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動(dòng)XYZ移動(dòng)樣品臺(tái);
          性價(jià)比*的元素分析及鍍層測(cè)厚雙功能分析儀器
          儀器尺寸:W610mm D670mm H490mm, 重量:75Kg (net)                              
          可測(cè)量樣器大?。篧550mm D550mm H30mm                      

           

          如需更詳細(xì)資料或報(bào)價(jià)請(qǐng)資詢:
          86-755-82413890

          李瑞軀

          86-755-82413857
          Mail:
          a@egl.hk
          skli@eastco-hk.com

          : mfyu2010
          Web:
          www.eastco-hk。。com

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