目錄:青島森泉光電有限公司>>激光控制和光學(xué)測量相關(guān)>>偏振測量儀>> SI035Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測試儀
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,綜合 |
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Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測試儀
特性
用于相干光束的定性準(zhǔn)直測試儀
適合1 mm到50 mm光束直徑的各種選項(xiàng)
分出< 10%光束
磁性耦合可調(diào)設(shè)計(jì)，可快速更換剪切板
英制和公制螺紋安裝孔
輸出端兼容30 mm籠式系統(tǒng)(除了SI500)
下面提供更換的剪切板
下面單獨(dú)提供配件(不兼容SI500)
SIVS放大觀察屏，用于?1 mm - ?10 mm光束
SITST安裝板，帶SM1 (1.035"-40)內(nèi)螺紋
SICP和SICPSM1轉(zhuǎn)接件，用于兼容30 mm籠式系統(tǒng)
Thorlabs剪切干涉儀設(shè)計(jì)用于定性檢測相干光束的準(zhǔn)直。它們?yōu)檩o助準(zhǔn)直透鏡的對準(zhǔn)提供一種快速的方法。剪切干涉儀包含一塊楔形光學(xué)平板，相對入射光束以45°安裝。光學(xué)平板前后表面的反射重疊在設(shè)備頂部的散射板上。散射板上刻的參考線指示入射光束是否準(zhǔn)直。
楔形光學(xué)平板由未鍍膜的紫外熔融石英制成，透射范圍從185 nm到2.1 µm。如果用于紅外光，需要紅外觀察儀才能看到散射板上的條紋。每個(gè)平板的楔角針對可接受光束的直徑范圍(刻在剪切板上)經(jīng)過優(yōu)化；詳情請看規(guī)格標(biāo)簽。由于光45°角入射在平板上，條紋圖案的強(qiáng)度取決于光的偏振。偏振垂直于入射平面時(shí)產(chǎn)生最大強(qiáng)度。
構(gòu)造
每個(gè)剪切干涉儀包含三個(gè)部分：一個(gè)底座、一個(gè)帶楔形光學(xué)平板的剪切板和一個(gè)帶散射觀察屏的板。為了搭建干涉儀，可用包含的帶帽螺絲和六角扳手將觀察屏板安裝再底座上。剪切板通過磁力固定位置，方便更換帶有不同楔形光學(xué)平板的剪切板。
30 mm籠桿固定在SI254剪切干涉儀的輸出端上
Thorlabs 剪切干涉儀 定性準(zhǔn)直測試儀
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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