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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)DX
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
更新時(shí)間:2024-10-12 15:15:00瀏覽次數(shù):189次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)XD7500VR Jade FP--- X射線檢測(cè)系統(tǒng)
價(jià)格區(qū)間 | 300萬(wàn)-500萬(wàn) | 儀器種類 | 小角散射儀 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
Jordan Valley公司新設(shè)計(jì)的Delta-X是多功能的X射線衍射設(shè)備,可靈活應(yīng)用于材料科學(xué)研究、工藝開(kāi)發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺(tái)和探測(cè)臺(tái)的光學(xué)元件可以自動(dòng)化調(diào)控,并采用水平式樣品臺(tái)。Delta-X衍射儀可以在常規(guī)衍射模式、高分辨率衍射模式、X射線反射模式之間靈活切換。光學(xué)配置的切換完在菜單式程序控制下由計(jì)算機(jī)完成,無(wú)需手動(dòng)操作。自動(dòng)化切換和準(zhǔn)直不需要專門(mén)人員和操作設(shè)備,并確保每次切換都能達(dá)到好的光學(xué)準(zhǔn)直狀態(tài)。
常規(guī)的樣品測(cè)量可以通過(guò)Delta-X衍射儀,實(shí)現(xiàn)部分、乃至完的自動(dòng)化運(yùn)行,自動(dòng)化測(cè)量程序可以依客戶需求進(jìn)行專門(mén)定制。也可采用完的手動(dòng)模式操作Delta-X衍射儀,以便發(fā)展新測(cè)量方法,研究新材料體系。
數(shù)據(jù)分析或擬合可以作為測(cè)量程序的一部分,可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化,也可依據(jù)需要單獨(dú)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。 依半導(dǎo)體生產(chǎn)線的需求,將RADS和REFS擬合軟件以自動(dòng)化模式運(yùn)行,允許在沒(méi)有用戶干擾的情況下自動(dòng)完成常規(guī)性的數(shù)據(jù)分析,并直接完成數(shù)據(jù)擬合和結(jié)果輸出。RADS和REFS也可以單獨(dú)安裝,以便進(jìn)行更詳細(xì)的數(shù)據(jù)分析。
Delta-X 衍射儀的主要特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
n 自動(dòng)化進(jìn)行樣品準(zhǔn)直、測(cè)試、和數(shù)據(jù)分析
n 客戶可以自行設(shè)定測(cè)量的自動(dòng)化程度
n 300mm的歐拉環(huán)支架(Eulerian Cradle)設(shè)計(jì),高精度的樣品定位和掃描
n 300mm的晶片水平式放置,且可以完整mapping
n 100º的Chi軸傾轉(zhuǎn)范圍、無(wú)限制范圍的Phi軸旋轉(zhuǎn)空間,可實(shí)現(xiàn)極圖和殘余應(yīng)力測(cè)試
n 智能化的光學(xué)配置切換和準(zhǔn)直。依測(cè)量需要,自動(dòng)選擇光學(xué)配置并實(shí)施光學(xué)準(zhǔn)直
n 工業(yè)界先的設(shè)備控制軟件和數(shù)據(jù)分析軟件
n 高分辨率測(cè)角儀,以保證精密且準(zhǔn)確的測(cè)量
n 高強(qiáng)度的光源臺(tái)設(shè)計(jì)和光學(xué)元件組合,以實(shí)現(xiàn)快速測(cè)量
n 多方面廣泛的測(cè)試技術(shù)和測(cè)量參數(shù)
n 由擁有超過(guò)30年的高分辨率X射線衍射經(jīng)驗(yàn)的世jie級(jí)專家設(shè)計(jì)、制造,具有球客戶經(jīng)驗(yàn)。
Delta-X衍射儀的入射束包括多種標(biāo)準(zhǔn)的光學(xué)配置模式,以便使光學(xué)配置具有充分的靈活性,且易于操作??梢砸罁?jù)測(cè)量樣品的材料類型,選擇參考晶體。
n 標(biāo)準(zhǔn)模式:用于所有系統(tǒng),平行束多層膜高反鏡
n 其他四種光學(xué)系統(tǒng)可以選擇和安裝:
n Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學(xué)元件)
n Bragg-Brentano鏡 (Johannson光學(xué)元件)和一個(gè)參考晶體(二次反射)
n 兩個(gè)獨(dú)立的參考晶體(二次反射):參考晶體的材料類型和分辨率有多種設(shè)計(jì)供選擇,以便提供與測(cè)量 匹配的分辨率。
n 兩個(gè)參考晶體,以Bartels模式安裝
n 參考晶體和高反鏡均可自動(dòng)化切換
n 不需要將參考晶體和高反鏡手動(dòng)移出衍射儀,保證光學(xué)元件不被損壞、不偏離準(zhǔn)直狀態(tài)。
n 衍射儀的初始準(zhǔn)直易于操作,安 可靠,無(wú)需在設(shè)備內(nèi)開(kāi)啟X射線操作。
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