三維光學(xué)顯微鏡

布魯克作為三維表面測(cè)量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動(dòng)機(jī)腔體等不同大小樣品的快說(shuō)非接觸式分析。如今的三維顯微鏡已歷十代，在原有Wyko®專有技術(shù)基礎(chǔ)上，不斷積累創(chuàng)新，來(lái)保證面對(duì)各種應(yīng)用環(huán)境時(shí)三維測(cè)量所需的高靈敏度和穩(wěn)定性；而這一挑戰(zhàn)往往是其他測(cè)量技術(shù)或測(cè)量系統(tǒng)難以克服的。

布魯克三維光學(xué)顯微系統(tǒng)在業(yè)界一直以佳服務(wù)和支持著稱，在性能穩(wěn)定性上一貫口碑良好。從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型車間和半導(dǎo)體無(wú)塵間，數(shù)以幾千計(jì)的系統(tǒng)被廣泛使用。作為專門(mén)為先進(jìn)質(zhì)量控制和研發(fā)設(shè)計(jì)的測(cè)量?jī)x器，可用于精密加工制造類應(yīng)用的監(jiān)控，在汽車、航空航天、高亮度LED、太陽(yáng)能、半導(dǎo)體和醫(yī)療器械領(lǐng)域，布魯克總有一款適合您應(yīng)用和與預(yù)算的三維光學(xué)顯微測(cè)量系統(tǒng)。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

粗糙度測(cè)量的精簡(jiǎn)而經(jīng)濟(jì)的臺(tái)式

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以佳的價(jià)格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計(jì)量樹(shù)立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能，并結(jié)合了數(shù)十年專有的布魯克白光干涉測(cè)量（WLI）創(chuàng)新技術(shù)。具有測(cè)量功能的臺(tái)式系統(tǒng)具有業(yè)界先進(jìn)的用戶友好界面，可直觀訪問(wèn)廣泛的預(yù)編程過(guò)濾器庫(kù)，并用于精密加工的表面，厚膜和摩擦學(xué)應(yīng)用分析。下一代增強(qiáng)功能包括新的5 MP攝像頭，更新的載物臺(tái)和新的測(cè)量模式，以實(shí)現(xiàn)更大的靈活性。您不會(huì)發(fā)現(xiàn)比ContourX-100更有價(jià)值的臺(tái)式設(shè)備。

ContourX-100 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

的計(jì)量

ContourX-100輪廓儀是非接觸表面計(jì)量，表征和成像領(lǐng)域超過(guò)四十年的專有光學(xué)創(chuàng)新和行業(yè)ling dao者的結(jié)晶。該系統(tǒng)利用3D WLI和2D成像技術(shù)在一次采集中進(jìn)行多種分析。 ContourX-100在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。

輪廓X-100

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-100

ContourX-100手動(dòng)平臺(tái)。

的價(jià)值和分析

ContourX-100臺(tái)式機(jī)具有成千上萬(wàn)的定制分析功能以及布魯克簡(jiǎn)單而強(qiáng)大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對(duì)ding 級(jí)高通量光學(xué)性能的簡(jiǎn)化訪問(wèn)，*超越了同類計(jì)量技術(shù)。

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

用于表面紋理計(jì)量的靈活臺(tái)式

ContourX-200光學(xué)輪廓儀將先進(jìn)的特性，可自定義的選項(xiàng)以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。具有測(cè)量功能的小尺寸系統(tǒng)使用較大的FOV 5 MP數(shù)碼相機(jī)和新型電動(dòng)XY位移臺(tái)，可提供毫不妥協(xié)的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。 ContourX-200還配有業(yè)界先進(jìn)的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)化的功能，可訪問(wèn)廣泛的預(yù)編程濾鏡和分析庫(kù)，用于精密加工的表面，厚膜，半導(dǎo)體，眼科，醫(yī)療設(shè)備，MEMS和摩擦學(xué)應(yīng)用。 ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度，在不限制傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和競(jìng)爭(zhēng)性標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)輪廓儀的情況下，提供了布魯克專有的白光干涉儀（WLI）技術(shù)的所有業(yè)界*的優(yōu)勢(shì)。

ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

毫不妥協(xié)的yi 流計(jì)量

基于ContourX-200光學(xué)輪廓儀超過(guò)四十年的專有WLI創(chuàng)新，該輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲，高速，高精度和高精度結(jié)果。通過(guò)使用多個(gè)目標(biāo)和集成的特征識(shí)別功能，可以在各種視野內(nèi)以亞納米級(jí)的垂直分辨率跟蹤特征，從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過(guò)程監(jiān)控應(yīng)用提供了與比例無(wú)關(guān)的結(jié)果。 ContourX-200在從0.05％到100％的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。

輪廓X-200

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

輪廓X-200

ContourX-200電動(dòng)載物臺(tái)。

廣泛的應(yīng)用分析能力

利用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision64用戶界面，ContourX-200提供了數(shù)千種定制分析，以提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新相機(jī)提供的更大FOV和新型電動(dòng)XY工作臺(tái)提供的靈活性，為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結(jié)合，可提供對(duì)ding 級(jí)光學(xué)性能的簡(jiǎn)化訪問(wèn)，*超越了同類計(jì)量功能。

ContourX-500 3D光學(xué)輪廓儀

用于3D計(jì)量的全自動(dòng)臺(tái)式

ContourX-500光學(xué)輪廓儀是用于快速，非接觸式3D表面度量的世界上全面的自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學(xué)頭，可以*編程，以在一定角度范圍內(nèi)測(cè)量表面特征，同時(shí)大程度地減少跟蹤誤差。具有測(cè)量功能的ContourX-500具有的Z軸分辨率和精度，并在更小的占地面積下提供了布魯克白光干涉儀（WLI）落地式機(jī)型的所有業(yè)界*的優(yōu)勢(shì)。利用業(yè)界先進(jìn)的用戶界面，ContourX-500可以直觀地訪問(wèn)廣泛的預(yù)編程過(guò)濾器和分析庫(kù)。借助其新的USI通用掃描模式，可以輕松地針對(duì)廣泛的復(fù)雜應(yīng)用定制分析器，從精密加工表面和半導(dǎo)體工藝的QA / QC計(jì)量學(xué)到眼科和MEMS器件的R＆D表征。

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ContourX-500 3D光學(xué)輪廓儀

輪廓GT-K

先進(jìn)的自動(dòng)化

布魯克專有的頭部?jī)A斜/傾斜為生產(chǎn)設(shè)置和檢查提供了的用戶靈活性。通過(guò)將自動(dòng)傾斜/傾斜功能與顯微鏡頭中的光路相結(jié)合，布魯克將檢測(cè)點(diǎn)與視線相結(jié)合，而與傾斜無(wú)關(guān)。這樣可以減少操作員的干預(yù)，提供大的可重復(fù)性。此功能與自動(dòng)登臺(tái)和物鏡相結(jié)合，使ContourX-500非常適合“按需測(cè)量”的工業(yè)需求，而且占地面積小。

輪廓X-500

傳統(tǒng)的俯仰和滾動(dòng)舞臺(tái)設(shè)計(jì)需要操作員進(jìn)行調(diào)整

五個(gè)運(yùn)動(dòng)軸以保持在線的檢查點(diǎn)

視線進(jìn)行測(cè)量。頭部*的布魯克提示/傾斜

設(shè)計(jì)在檢查點(diǎn)上保持了視線-

不論傾斜度如何-都能優(yōu)化圖像采集和

快的數(shù)據(jù)記錄時(shí)間。

輪廓X-500

WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。

的價(jià)值和分析

ContourX-500具有成千上萬(wàn)的自定義分析功能以及布魯克簡(jiǎn)單易用但功能強(qiáng)大的VisionXpress™和Vision64®用戶界面，為實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率進(jìn)行了優(yōu)化。這種*的硬件和軟件組合提供了對(duì)高可重復(fù)性和高通量計(jì)量學(xué)測(cè)量的簡(jiǎn)化訪問(wèn)，從而超過(guò)了同類計(jì)量能力。