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是一款*的高靈敏度分光光度計，可進行深紫外區(qū)檢測，具備大樣品室，可滿足光學、半導體及FPD在以下方面的檢測需求。
FPD：
材料評估中NIR和大樣品的高靈敏度測定。
半導體：
短波長激光和12英寸晶片整體表面的深紫外區(qū)測定。
光通信：
減反射膜NIR高靈敏度測定。
光學：
從DUV到NIR再到大樣品的高靈敏度分析。
產品簡介
詳細介紹
光學組件需要對透光率及反射率進行高精度測定。SolidSpec-3700/37000DUV擁有三個檢測器，覆蓋的范圍從紫外區(qū)到近紅外區(qū)。通過使用InGaAs和冷卻型PbS檢測器提高近紅外區(qū)的靈敏度。從而得到從紫外區(qū)到近紅外區(qū)高精度和高靈敏度光譜。 傳統的分光光度計使用一個光電倍增管對紫外和可見區(qū)域進行檢測。但所有檢測器在檢測器轉換范圍內靈敏度較低，因此在此范圍檢測時無法實現高靈敏度測定。 SolidSpec-3700/3700DUV通過使用InGaAs檢測器可在轉換領域內進行高靈敏度檢測。 高靈敏度檢測
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