細(xì)說分析涂層測(cè)厚儀磁性測(cè)量法與渦流測(cè)量法之間有哪些區(qū)別

閱讀：1584發(fā)布時(shí)間：2020-12-16

涂層測(cè)厚儀的無損檢測(cè)方法與原理：涂層測(cè)厚儀在現(xiàn)實(shí)測(cè)量中是一門理論上綜合性較強(qiáng)，又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)，產(chǎn)品設(shè)計(jì)，制造工藝，斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。

　　在化工，電子，電力，金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常采用噴涂有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。

　　覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的較重要工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*手段。目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度，覆層無損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。

　　有關(guān)覆層無損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

　　X射線和β射線反射法可以無接觸無損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍小。因有放射源，故，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。

　　電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。

　　磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微處理機(jī)技術(shù)后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用較廣泛的儀器。超聲波物位計(jì),超聲波液位計(jì),超聲波測(cè)厚儀。

　　采用無損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。以下分別介紹幾種常規(guī)測(cè)厚的方法

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