原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案力學(xué)-電學(xué)測量系統(tǒng)（定量力+電+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成納牛力傳感器，實(shí)現(xiàn)高精度的力學(xué)及電學(xué)測量。
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-低溫電學(xué)測試系統(tǒng)（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成低溫環(huán)境控制單元，從而實(shí)現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位低溫電學(xué)測量的目的。
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-光電性質(zhì)測試系統(tǒng)（非定量力+電+光+三維操縱）在標(biāo)配TEM-STM樣品桿內(nèi)集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實(shí)現(xiàn)光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境...
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了...
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價(jià)：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價(jià)：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納...
原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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