產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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詳細(xì)介紹
高阻表4349B高阻表4349B高阻表4349B高阻表4349B美國(guó)安捷倫4349B阻抗分析儀的功能介紹:Agilent 4349B增加測(cè)試吞吐率,同時(shí)對(duì)4通道絕電阻進(jìn)行測(cè)量。安捷倫4349B可同時(shí)對(duì)4通道多個(gè)被測(cè)件進(jìn)行測(cè)量,增加測(cè)試吞吐率。測(cè)量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω,基本精度為2%,具有接觸檢查功能 美國(guó)安捷倫4349B阻抗分析儀的技術(shù)參數(shù):測(cè)量速度9.5ms的測(cè)量速度4個(gè)通道,可用于多個(gè)被測(cè)件4個(gè)通道同時(shí)測(cè)試快速接觸檢查:2毫秒/點(diǎn)GPIB和處理器接口
· 測(cè)量參數(shù):R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率),pv(體電阻率)。
· 測(cè)量范圍:電阻1*103Ω 至 1x1015Ω;電流1pA至100uA。
· 測(cè)量速度:***快9.5ms的測(cè)量時(shí)間。
· 基本測(cè)量精度:2%。
· 4個(gè)通道,可用于多個(gè)被測(cè)件,4個(gè)通道可同時(shí)測(cè)試。
· 接觸檢查功能:可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障,2毫秒/點(diǎn),保證可靠的測(cè)試
精度:2%
美國(guó)安捷倫4349B阻抗分析儀其他:
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