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Thick 8000自動能譜儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick 8000自動能譜儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。
Thick 8000自動能譜儀配置
1 硬件:主機壹臺,含下列主要部件:
(1) X光管 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路 (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高清晰攝像頭 (6) 高壓系統(tǒng)
(7) 上照、開放式樣品腔 (8)雙激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計算機、打印機各臺
計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)
4 資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各份。
參數(shù)規(guī)格
1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U);
2.同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層;
3.分析含量:般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度:般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測器:分辨率低至135eV;
6.的微孔準直技術(shù):小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm;
7.樣品觀察:配備景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭;
8.準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合;
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um;
性能特點
1.精密的三維移動平臺;
2.的樣品觀測系統(tǒng);
3.的圖像識別;
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測;
5.四種微孔聚焦準直器,自動切換;
6.雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞;
7.采用大面積高分辨率探測器,降低檢出限,提高測試精度。
安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。