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當前位置:寧波申研量儀檢測儀器有限公司>>技術文章>>SYGZ-1鋼直尺檢定臺檢定方法
1. SYGZ-1鋼直尺檢定臺輔助配置外觀檢測:
尺的端邊、側(cè)邊及背面應光滑,不應有毛刺、鋒口和銼痕等現(xiàn)象。棉纖維鋼尺上述部位的表面粗糙度R<1.6 um。
尺的刻線面及刀口平面不應有碰傷、銹跡及影響使用的明顯斑點、劃痕。棉纖維鋼尺上述部位的表面粗糙度Ra<0.8 um,
線紋必須明晰,垂直到側(cè)邊,不應有目力可見的斷線現(xiàn)象存在。半毫米、毫米、半厘米、厘米線紋應用不同長度的線紋表示。所有同名長度的線紋應等長。鋼直尺分度應自端邊算起,標注相應的以厘米為計數(shù)單位的數(shù)字。標稱全長處應標注cm單位 。
尺上應標注制造廠名 (或商標)、CMA標志、分度值及編號。數(shù)字、文字、線紋均應清晰,排列整齊,不得有遺漏。新制造的尺應符合以上要求,使用中的尺允許有不影響準確度的外觀缺陷。檢定方法
表面粗糙度用表面粗糙度比較樣塊比較,發(fā)現(xiàn)有疑問時,可用表面粗糙度測量儀器a檢定。其余外觀項目和使用中的尺,用目力觀察。
2. SYGZ-1鋼直尺檢定臺彈性檢測
要求普通鋼直尺彎曲成半徑為250 mm的圓弧,放開后,不應產(chǎn)生塑性變形。將尺面貼合在半徑為250 mm的半圓盤外圓上,放開后按尺面平面度要求和方法進行檢定。
3. SYGZ-1鋼直尺檢定臺面平面度
尺面平面度不應超過表2的規(guī)定
檢定方法
被檢尺平放在相應規(guī)格的1級平尺 (或1級平板)上,用相應的1級塞尺在尺的全長范圍內(nèi)進行檢定,如能通過,則不合格。
4.尺的端邊與側(cè)邊垂直度
要求以側(cè)邊為基準的端邊垂直度不應超過表3的規(guī)定。將被檢尺的兩側(cè)邊按刻線面與平尺工作面相垂直的方向分別置于相應規(guī)格的2級平尺上,并使其端邊與置于平尺上的1級直角尺豎邊相接觸,用1級塞尺對被檢尺端邊的上或下端縫隙進行檢定,不應超過表3的規(guī)定。
5.尺的端邊、側(cè)邊的直線度檢測
要求尺的端邊、側(cè)邊的直線度不應超過表3的規(guī)定。
檢定方法
分別將尺的端邊和側(cè)邊貼合在相應規(guī)格的1級平尺 (或1級平板)上,用相應的1級塞尺在被檢邊全長范圍內(nèi)進行檢定,如能通過,則不合格。
6. SYGZ-1鋼直尺檢測臺側(cè)邊厚度
要求棉纖維鋼尺側(cè)邊厚度應為0.2-0.3 mm.
檢定方法
將尺平放在1級平尺 (或1級平板)上 (刻線面向下),用0.2 mm和0.3 mm的1
級塞尺以比較法檢定。
7.SYGZ-1鋼直尺檢測儀端邊與側(cè)邊相交處圓弧半徑
要求新制造的棉纖維鋼尺不應超過0.1 mm;使用中的尺不應超過0.2 mm。
檢定方法
目力觀察。如有疑問,可在工具顯微鏡上用圓弧目鏡進行檢定。
8. SYGZ-1鋼直尺檢定臺線紋寬度及寬度差
要求線紋寬度及寬度差不應超過表4的規(guī)定。
檢測方法
用分度值為0.01 mm的讀數(shù)顯微鏡進行檢定。
9. SYGZ-1鋼直尺檢定臺示值誤差
要求全長及任一線紋到尺的端邊或末端線紋的示值誤差不應超過表5和表6的規(guī)定。
用于量值傳遞作標準的鋼直尺,任意線紋之間的示值誤差不應超過表6的規(guī)定。
檢定方法
1 000 mm以下規(guī)格的尺,全長示值誤差的檢定系將三等標準金屬線紋尺與被檢尺分別放在鋼直尺檢定臺的主臺板和可調(diào)臺板上。也可以使用其他滿足檢定要求的工作臺。調(diào)整升降螺母,使被檢尺的刻線面與標準尺的尺邊在同一平面上 (被檢尺與標準尺的相互位置如圖3所示),旋緊蝶形螺帽使標準尺與被檢尺的上下位置固定。調(diào)整被檢尺,使其線紋軸線與標準尺的尺邊相平行,旋動對零螺桿,使標準尺的首端或末端線紋與被檢尺的端邊對齊,用標準尺所附的放大鏡在標準尺上讀出被檢尺的誤差 。
1500 mm和2000 mm尺的檢定,先將1 500 mm的分1 000mm和500mm兩段檢定,2000mm的分1000 mm的兩段檢定,其全長誤差為兩段誤差的代數(shù)和。
任一線紋到尺的端邊或末端線紋的檢定,系由尺的端邊或末端線紋到尺的任一線紋與標準尺相應長度比較。作量值傳遞用的鋼直尺,任意線紋之間的示值誤差,在其全長范圍內(nèi)大致均勻分布不少于3段與標準尺相應長度相比較。被檢尺超過 1 000 mm可分為兩段與標準尺比較,其誤差為兩段誤差的代數(shù)和。
*個半毫米、毫米分度的示值誤差,用分度值為0.01 mm的讀數(shù)顯微鏡進行檢定。
鋼直尺刻線面上、下兩側(cè)線紋的示值誤差均應檢定,其誤差不應超過表5和表6的規(guī)定。
檢定讀數(shù)時應以各條線紋的中心為準。三等標準金屬線紋尺的線紋間隔應按實際尺寸使用。示值誤差也允許采用滿足準確度要求的其他方法進行檢定。
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