高速精密電容測(cè)量儀簡介

TH2638系列高速精密電容測(cè)量儀是具有高達(dá)1MHz測(cè)試頻率的新型電容測(cè)量儀，體積小，緊湊便攜，便于上架使用。4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面，操作方便快捷。 

TH2638系列測(cè)量電容基本精度為±0.07%，損耗精度高達(dá)0.0005，最高速度高達(dá)2.3ms;超寬的量程配置，使得TH2638系列能夠精確測(cè)量從低值到高值的各類電容;超寬的輸出阻抗范圍和信號(hào)電平補(bǔ)償功能，特別適合于用穩(wěn)定的測(cè)試電平高速高精度測(cè)試陶瓷電容器;世界的三參數(shù)(Cs-RsLs)測(cè)試功能解決了新能源汽車用DC-Link薄膜電容器串聯(lián)等效電感ESL的測(cè)試難題。 

TH2638系列兼容SCPI命令集;有機(jī)械手接口和料箱分類功能，適合生產(chǎn)線高速測(cè)試產(chǎn)品的自動(dòng)分類;最多256個(gè)掃描通道的掃描器接口，大大提高生產(chǎn)效率;不良接觸的檢查功能大大減低了生產(chǎn)線快速測(cè)試時(shí)的誤判率;當(dāng)測(cè)試頻率為1MHz時(shí)，頻率偏移設(shè)置功能（1MHz±1%，1MHz±2%）可消除陣列式電容器測(cè)試系統(tǒng)中相鄰測(cè)量終端的干擾，并降低測(cè)量結(jié)果的波動(dòng)。 

可以根據(jù)不同尺寸的DC-Link薄膜電容器為客戶定制相應(yīng)的測(cè)試夾具。

1.高速度,高精度,高一致性

測(cè)試速度：2.3ms(100kHz/1MHz),3.0ms(1kHz/10kHz/40kHz),11.0ms(120/100Hz)

電容測(cè)試精度：±0.07%，

損耗因素：±0.0005

測(cè)試速度和量程的設(shè)置,解決了以下幾個(gè)問題

1.高速測(cè)試下精度及無法得到保證

2.測(cè)量儀器無法滿足高吞吐率自動(dòng)化設(shè)備的測(cè)試要求

3.在滿足了測(cè)試速度的情況下，多次測(cè)試數(shù)據(jù)的一致性不好

應(yīng)用

■ 電解電容器高速高精度測(cè)試

■ 陶瓷電容器高速高精度測(cè)試

■ 薄膜電容器高速高精度測(cè)試

■ 各種電容器生產(chǎn)線高速測(cè)試

■ 高速自動(dòng)化生產(chǎn)線集成測(cè)試

■ 半導(dǎo)體、器件、材料分布電容測(cè)試