冷熱沖擊試驗箱用途

應(yīng)用于國防工業(yè)、航空工業(yè)、高校院所、自動化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、OLED、BGA封裝、PCB基扳、IC封裝、IC芯片、半導(dǎo)體元器件、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性沖擊測試，作溫度快速變化或漸變條件下產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。

冷熱沖擊試驗箱特點

1.外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*、選材考究，具有簡單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。

2.試驗箱分為高溫箱、低溫箱、測試箱三部分，采*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待 測物*靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷，熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。

3.采用*的計測裝置，控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對話式LCD人機(jī)接口控制器，操作簡單、學(xué)習(xí)容易、穩(wěn)定可靠，中/英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

4.具96個試驗規(guī)范獨立設(shè)定，沖擊時間999小時59分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實現(xiàn)制冷機(jī)自動運轉(zhuǎn)，大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動、停止工作運行。

5.箱體左側(cè)具一直徑50mm之測試孔，可供外加電源負(fù)載配線測試部件。

6.可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗機(jī)的功能。

7.具備全自動，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動演算控制，溫度控制精度高。

8.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長期可靠性。

9.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動（手動） 除霜。 

10.出風(fēng)口于回風(fēng)口感知器檢測控制，風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時間為5秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5分鐘內(nèi)完成。

11.運轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時，螢?zāi)簧霞纯套詣语@示故障點及原因和提供排除故障的方法。

12.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，冷凍機(jī)組采用歐美*壓縮機(jī)，并采用對臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404A/R23。

沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)

1.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃；-55℃～+150℃；-65℃～+150℃。（高溫可定制：+250℃）

2.高低溫區(qū)溫度范圍：

A.高溫蓄能區(qū)：室溫～+155℃。（定制性：室溫～+215℃）

B.低溫蓄能區(qū)：室溫～-55℃；室溫～-70℃；室溫～-80℃。

3.測試區(qū)溫度范圍：

A.高溫沖擊溫度范圍：+50℃～+150℃。（定制型：+50℃～+200℃）

B.低溫沖擊溫度范圍：-10℃～-40℃；-10℃～-55℃；-10℃～-65℃。

C.溫度波動度：±0.5℃。

D.溫度均勻度：±2.0℃。

4.高低溫測試區(qū)溫度恢復(fù)和轉(zhuǎn)換時間：≤5分鐘。（可定制溫變速率為：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變）

5.試驗測試溫度范圍：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃。（可根據(jù)試驗要求選擇溫度范圍）

6.試驗測試方式：高低溫沖擊試驗、冷熱沖擊試驗、高低溫恒定試驗、高低溫交變沖擊試驗。

7.試品重量：8 KG（可訂制其他規(guī)格）。

8.使用電源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。

9.重量約：480KG。

10.在無試驗負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測定的性能。

11.溫度均勻度定義為：實驗機(jī)幾何中心點處（計量單位空間9點測溫法）。

12.設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。

13.設(shè)備檢定標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。

14.設(shè)備的型號和規(guī)格選擇如下：

 型 號          內(nèi)箱尺寸（mm）        外箱尺寸（mm）

ZK-TS -80L       W500×H600×D500      W850×H1680×D1250

ZK-TS-120L       W500×H750×D600      W850×H1880×D1350

ZK-TS-150L       W500×H600×D500      W850×H1680×D1250

ZK-TS-225L       W500×H750×D600      W850×H1880×D1350

ZK-TS-408L       W600×H850×D800      W900×H1980×D1550

ZK-TS-800L       W800×H1000×D1000     W1100×H2150×D1650

ZK-TS-1000L      W1000×H1000×D1000    W1300×H2150×D1650

可按需求尺寸非標(biāo)定制......

沖擊試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件。

2.GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件。

3.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

4.GB2423.1 低溫試驗、試驗A。

5.GB2423.2 高溫試驗、試驗B。

6.GB2423.22 溫度變化試驗,試驗N。

7.IEC68-2-14 試驗N。

8.國軍標(biāo)GJB150.3-86。

9.國軍標(biāo)GJB150.4-86。     

10.GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法。 　

11.GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法。