高低溫循環(huán)應(yīng)力篩選試驗箱用途

?1.設(shè)備應(yīng)用于產(chǎn)品的研制階段與生產(chǎn)階段。是通過向電子產(chǎn)品施加合理的溫度循環(huán)應(yīng)力和電應(yīng)力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，并通過發(fā)現(xiàn)和排除故障的過程。主要對整機(jī)、單元、器件、PCB進(jìn)行100%篩選，溫度循環(huán)應(yīng)力篩選應(yīng)符合”盡快暴露早期失效，又不超過產(chǎn)品設(shè)計極限“的原理，要求溫變率為5℃/min～25℃/min，以便提高產(chǎn)品的使用可靠性。溫度循環(huán)應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程，要與環(huán)境試驗區(qū)分開來，所以溫度循環(huán)應(yīng)力篩選是100％對產(chǎn)品進(jìn)行的程序。

2.溫度循環(huán)應(yīng)力篩選試驗箱適用于航空航天工業(yè)、國防研發(fā)、高校院所科研、芯片制備、IC封裝、半導(dǎo)體器件、新能源動力電池、光電通訊器件、智能手機(jī)研發(fā)、5G通訊設(shè)備等單位及行業(yè)。是品管工程和產(chǎn)品研發(fā)、分析的高效可靠性解決方案。

高低溫循環(huán)應(yīng)力篩選試驗箱技術(shù)參數(shù)

1.工作室容積：150L，225L，408L，500L，800L，1000L。（可定制非標(biāo)機(jī)型）

2.溫度范圍：-70℃～+150℃。

3.濕度范圍：20%～98%RH；10%～98%RH；5%～98%RH。（選購模塊）

4.溫變速率：5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min。（選購：線性與非線性溫變）

5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。（可按需求定制）

6.溫度波動度：±0.5℃。

7.溫度均勻度：±2.0℃。

8.濕度波動度：±1.0%RH。

9.濕度均勻度：±3%R.H。

10.溫濕度值偏差：≤±2.0℃/3%RH。

11.電源：AC380V（五線制）±5%。

11.制冷系統(tǒng)：*壓縮機(jī)低噪音模塊化二元復(fù)疊熱交換設(shè)計水冷式制冷機(jī)組。

12.加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管，空氣式控溫。

13.節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%。

14.保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載、過流、超壓保護(hù)、漏電保護(hù)、內(nèi)箱超溫保護(hù)、加熱管空焚保護(hù)。

15.快速溫度變化試驗箱標(biāo)準(zhǔn)型號及規(guī)格選擇如下，可按需求非標(biāo)定制。

 型 號        內(nèi)箱尺寸（mm）     外箱尺寸（mm）

ZK-ESS-150L    W500×H600×D500     W850×H1680×D1250

ZK-ESS-225L    W500×H750×D600     W850×H1880×D1350

ZK-ESS-408L    W600×H850×D800     W900×H1980×D1550

ZK-ESS-500L    W800×H900×D700     W1100×H2100×D1450

ZK-ESS-800L    W800×H1000×D1000    W1100×H2150×D1650

ZK-ESS-1000L   W1000×H1000×D1000   W1300×H2150×D1650

高低溫循環(huán)試驗箱High-low temperature cycle參考標(biāo)準(zhǔn)

1.MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選。

2.MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

3.NABMAT-9492 美軍海軍制造篩選。

4.GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選指南。

5.GJB 1032-90 電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法。

6.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗。

7.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

8.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗。

9.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

10.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。

11.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫。

12.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗。

13.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱。

14.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗N：溫度變化試驗。

15.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗。

高低溫循環(huán)試驗箱High-low temperature cycle特點(diǎn)

1.溫度快速升降溫試驗箱經(jīng)提取歐美及日本設(shè)計與制造工藝?yán)砟睿捎们把氐闹评淇刂颇Ｊ?，可使輸出功率?%～100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷量，較傳統(tǒng)平衡調(diào)溫調(diào)濕模式耗能減少30%。制冷系統(tǒng)為*壓縮機(jī)低噪音模塊化二元復(fù)疊熱交換水冷式機(jī)組設(shè)計，可使溫度循環(huán)按線性與非線性快速溫變，同時溫變速率可實現(xiàn)5℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min等可靠性條件。

2.制冷及電控、溫控系統(tǒng)關(guān)鍵配件均采用，每臺電機(jī)均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保設(shè)備運(yùn)行期間高可靠性，使設(shè)備的綜合性能得到*釋放提升。

3.USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴(kuò)展功能滿足用戶多種需要，實現(xiàn)運(yùn)行數(shù)據(jù)交換功能，能與用戶主機(jī)連接進(jìn)行遠(yuǎn)程操控，實時了解設(shè)備運(yùn)行狀況，可通過任何移動終端監(jiān)控。

4.可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制（選購加裝濕度模塊），具備高低溫快速溫變（溫度循環(huán)應(yīng)力篩選）、高溫高濕試驗、冷熱循環(huán)試驗、濕熱交變試驗、恒溫恒濕試驗、結(jié)露試驗等多種可靠性測試。滿足不同用戶對多種產(chǎn)品在惡劣復(fù)雜氣候環(huán)境條件下的試驗。