高低溫沖擊試驗(yàn)測(cè)試箱Thermal Shock Test概述

高低溫沖擊試驗(yàn)測(cè)試箱是模擬周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊），應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件、OLED、EVA、PCB、IC芯片、集成電路等作溫度快速變化條件下熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，是確認(rèn)產(chǎn)品品質(zhì)的理想測(cè)試工具（可靠性試驗(yàn)）。

高低溫沖擊試驗(yàn)測(cè)試箱特點(diǎn)

1.控制系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：中英文菜單式人機(jī)對(duì)話操作方式，有開機(jī)自檢功能、溫度線性校正、自動(dòng)停機(jī)、系統(tǒng)預(yù)約定時(shí)啟動(dòng)功能；實(shí)現(xiàn)工業(yè)自動(dòng)化，帶數(shù)據(jù)交互功能，能與客戶主機(jī)鏈接實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控，了解設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，可以通過任何移動(dòng)終端監(jiān)控。

2.具96個(gè)試驗(yàn)規(guī)范獨(dú)立設(shè)定，沖擊時(shí)間999小時(shí)59分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)，減輕操作人員工作量，可在任意時(shí)間自動(dòng)啟動(dòng)﹑停止運(yùn)行。

3.箱體左側(cè)中部開一直徑50mm之測(cè)試孔，可供外加電源負(fù)載配線測(cè)試部件。

4.具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，*有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制，溫度控制精度高。

5.*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。

6.可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜。

7.運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線顯示發(fā)生異常狀況時(shí)，螢?zāi)簧霞纯套詣?dòng)顯示故障點(diǎn)及原因和提供排除故障的方法。

8.冷凍系統(tǒng)采用復(fù)疊高效低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美*壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404A/R23。

高低溫沖擊試驗(yàn)測(cè)試箱Thermal Shock Test性能

1.溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、-65℃～+150℃。（高溫可定制：+200℃）

2.高低溫區(qū)溫度范圍：

A.高溫蓄能區(qū)：室溫～+165℃。

B.低溫蓄能區(qū)：室溫～-55℃、室溫～-70℃、室溫～-80℃。

3.測(cè)試區(qū)溫度范圍：

A.高溫沖擊溫度范圍：+50℃～+150℃。

B.低溫沖擊溫度范圍：-10℃～-40℃、-10℃～-55℃、-10℃～-65℃。

4.溫度波動(dòng)度：±0.5℃。

5.溫度均勻度：±2.0℃。

6.高溫區(qū)升溫時(shí)間：RT（室溫）～＋165℃小于 35min（室溫在＋10～＋25℃時(shí)）。

7.低溫區(qū)降溫時(shí)間：RT（室溫）～-55℃小于 75min（室溫在＋10～＋25℃時(shí)）。

8.低溫沖擊溫度恢復(fù)和轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤5min。（可定制溫變速率為：10℃/min；15℃/min；20℃/min；25℃/min，線性與非線性溫變）

9.試驗(yàn)測(cè)試溫度范圍：-40℃～+85℃；-40℃～+120℃；-55℃～+125℃；-65℃～+150℃。（按要求選擇）

10.高溫槽與低溫槽風(fēng)門切換時(shí)間：≤3S。

11.試品重量：≤8 KG。（可按需求定制）

12.整機(jī)噪聲：＜75 dB。

13.使用電源：AC3∮5W 380V±10% ；50HZ。

14.總功率：15.5KW。

15.大工作電流：25.0A。

16.重量約：480KG。

17.在無試驗(yàn)負(fù)荷、無層架情況下穩(wěn)定20分鐘后測(cè)定的性能。

18.溫度均勻度定義為：實(shí)驗(yàn)機(jī)幾何中心點(diǎn)處（計(jì)量單位空間9點(diǎn)測(cè)溫法）。

19.設(shè)備制造標(biāo)準(zhǔn)：GB/T10586-2006，GB/T10592-1989。

20.設(shè)備檢定標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5170.2-1996，GB/T5170.5-1996。

高低溫沖擊試驗(yàn)測(cè)試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.GB2423.2-2008（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。

2.GJB150.3A-2009（MIL-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法。

3.GB/T2423.1-1989 低溫試驗(yàn)方法。

4.GB/T2423.2-1989 高溫試驗(yàn)方法。

5.GB/T2423.22-1989 溫度變化試驗(yàn)。

6.GJB150.5-86 溫度沖擊試驗(yàn)。

7.GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)。

8.GJB367.2-87 405 溫度沖擊試驗(yàn)。

9.國(guó)軍標(biāo) GJB150.3-2009/GJB150.4-2009。

10.MIT-STD-883E Method 1011.9。

11.JESD22-B106。

12.EIAJED- 4701-B-141。