照明方式

反射：D/8（漫射照明，8°方向接收）;
SCI/SCE測(cè)量;包括UV/排除UV測(cè)量；
透射：D/0（漫射照明，0°方向接收）
SCI/SCE測(cè)量;包括UV/排除UV測(cè)量；
霧度(ASTM D1003);
符合標(biāo)準(zhǔn)CIE No.。15，GB/T 3978,GB 2893,GB/T 18833,ISO7724/1,ASTM E1164,DIN5033 Teil7

特性

用于實(shí)驗(yàn)室顏色精確分析與傳遞；
塑膠電子、油漆油墨、紡織服裝印染、印刷等行業(yè)反射樣品、透明樣品顏色傳遞和質(zhì)量控制方面。

積分球尺寸

Φ154mm

照明光源

360~780nm氙燈，400nm截止氙燈，420nm截止氙燈，460nm截止氙燈

分光方式

凹面光柵

感應(yīng)器

256像元雙陣列CMOS圖像感應(yīng)器

測(cè)量波長(zhǎng)范圍

360~780nm

波長(zhǎng)間隔

10nm

半帶寬

5nm

反射率測(cè)定范圍

0~200%

測(cè)量口徑

反射：Φ30mm/Φ25.4mm，Φ18mm/Φ15mm，Φ10mm/Φ8mm，Φ6mm/Φ4mm；
透射：Φ30mm/Φ25.4mm
備注：
1.切換口徑自動(dòng)識(shí)別
2.客戶可根據(jù)需要自行配置口徑和透鏡位置

含光方式

反射SCI/SCE，透射SCI/SCE

顏色空間

CIE LAB,XYZ,Yxy,LCh,CIE LUV,Musell,s-RGB,HunterLab,βxy,DIN Lab99

色差公式

ΔE*ab,ΔE*uv,ΔE*94,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*00, DINΔE99,ΔE(Hunter)

其它色度指標(biāo)

WI(ASTM E313，CIE/ISO,AATCC,Hunter)，
YI(ASTM D1925，ASTM 313),
同色異譜指數(shù)Mt，
沾色牢度,變色牢度,力份,遮蓋度
APHA/Hazen/Pt-Co（鉑鈷指數(shù)），Gardner指數(shù)
8度光澤度,555色調(diào)分類,霧度(ASTM D1003),Saybolt（塞伯特指數(shù)）

觀察者角度

2°/10°

觀測(cè)光源

D65,A,C,D50,D55,D75,F1,F2,F3,F4，F(xiàn)5，F(xiàn)6,F7,F8,F9，F(xiàn)10,F11,F12,CWF,DLF,TL83,TL84,TPL5,U30

顯示

光譜圖/數(shù)據(jù)，樣品色度值，色差值/圖，色品圖，顏色仿真，合格/不合格結(jié)果，顏色偏向

測(cè)量時(shí)間

約2.4s（同時(shí)測(cè)試SCI/SCE 約5s）

重復(fù)性

分光反射率：Φ25.4mm/SCI,標(biāo)準(zhǔn)偏差0.06%以內(nèi)

色度值：Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 標(biāo)準(zhǔn)偏差0.012以內(nèi)（儀器預(yù)熱校正后,以間隔5s測(cè)量白板30次平均值）

分光透過率：Φ25.4mm/SCI,標(biāo)準(zhǔn)偏差0.06%以內(nèi)

色度值：Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 標(biāo)準(zhǔn)偏差0.015以內(nèi)（儀器預(yù)熱校正后,以間隔5s測(cè)量白板30次平均值

臺(tái)間差

Φ25.4mm/SCI,ΔE*ab 0.12以內(nèi)（BCRA系列Ⅱ 12塊色板測(cè)量平均值）

尺寸

長(zhǎng)X寬X高=370X300X200mm

重量

約9.6kg

供電方式

直流24V,3A電源適配器供電

照明光源壽命

3年大于50萬次測(cè)量

顯示屏

TFT 真彩 7inch，電容觸摸屏

接口

USB，藍(lán)牙®4.0，打印串口

存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

標(biāo)樣5000條，試樣40000條（SCI/SCE算一條數(shù)據(jù)）

語言

簡(jiǎn)體中文，繁體中文,English,(可定制德語、法語、西班牙語)

操作溫度范圍

0~40℃（32~104°F）

存儲(chǔ)溫度范圍

-20~50℃（-4~122°F）

標(biāo)準(zhǔn)附件

電源適配器、說明書、品質(zhì)管理軟件(下載)、數(shù)據(jù)線、標(biāo)準(zhǔn)校正板，透射黑擋板、黑校正盒、樣品固定架，25.4mm口徑，15mm口徑，8mm口徑，4mm口徑、透射測(cè)試夾具組件

可選附件

微型打印機(jī)，透射測(cè)試夾具組件、儀器倒置測(cè)試夾具、培養(yǎng)皿

注：

如有變更，恕不另行通知