電鏡SEM高分辨率檢測標樣
圖象的分辨率是掃描電鏡的zui重要技術(shù)指標，它反映儀器的綜合性能。只有綜合性能良好的儀器才能獲得具有zui小球差、色差、畸變及象散的高分辨圖象。掃描電鏡的分辨率一般由可以檢測到的zui小間距和圖象的灰度共同決定。
電鏡SEM高分辨率檢測標樣，又稱碳基金標樣，將金原子鍍膜在厚度約2mm的基質(zhì)上，在中高度分辨率測試中，不同大小的金粒子（<2nm-30nm）會產(chǎn)生不同的間隙。本品可用于像散校正和分辨率檢測，推薦用于放大率在50000×及以上的儀器。
訂購信息：
貨號 | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79511-01 | Very High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個 |
79511-02 | Very High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個 |
79511-03 | Very High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個 |
79511-04 | Very High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個 |
79511-05 | Very High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個 |
另：金粒子的大小<1nm-20nm的碳基金標樣，又稱SEM超高分辨率檢測標樣，推薦用于80000×及以上的儀器。
訂購信息：
貨號 | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79512-01 | Ultra High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個 |
79512-02 | Ultra High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個 |
79512-03 | Ultra High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個 |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個 |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個 |
QQ交談
