礦用真空度測試儀

故障點發(fā)生在電纜本體時，一般來說是容易判斷的，只要用閃絡法就可出現(xiàn)典型測試波形。但是如果故障點發(fā)生在電纜接頭或終端頭時，往往會發(fā)生判斷困難，而且還會發(fā)生一些無法解釋的反?，F(xiàn)象。
　　接頭故障在測試中有可能會發(fā)生以下幾種情況：
　?、?初測時，故障點電阻值較低，無法作耐壓試驗，而加上沖擊高壓后，絕緣電阻會越來越高，而且用主機觀察時往往發(fā)現(xiàn)*點的反射回波，也就是故障點未被電離擊穿。
　　 ②在作沖擊高壓閃絡測量時，從球間隙的聲音來判斷，清脆響亮，似乎故障點是被擊穿了的，但從主機上觀察不到故障點反射波（這往往是故障點擊穿電弧爬距太大造成的）。
　　 ③作高壓預試時泄漏電流很大，閃絡電壓加到預試zui大值時還未出現(xiàn)故障回波，并且隨著沖擊電流的加大，泄漏電流反而變小，絕緣電阻反而越高。
　　一般在測試時出現(xiàn)上述反?，F(xiàn)象，則應考慮到故障點可能在接頭處，應用特殊的方法來處理。如用高壓沖擊電流“燒穿”，或加大貯能電容的容量，提高沖擊電壓等等。
　　真空滅弧室作為真空斷路器的核心部件，真空壓強，直接影響真空滅弧室的性能，為保證滅弧室的可靠工作，我國部標（JB）技術中規(guī)定其真空壓強的允許zui大值為1.33×10-2Pa 國標（GB）中為6.6×10-2Pa。盡管現(xiàn)代電真空技術已能保證它們有10年及至20年的真空壽命。但是由于我國目前的生產(chǎn)條件和工藝水平，尚不能*保證生產(chǎn)的真空滅弧室不漏氣。同時我國現(xiàn)有的真空滅弧室觸頭材料大多采用cucr，雖然cr 的吸氣性強，但當采用傳統(tǒng)的粉末冶金法來制備cucr材料時，材料的含氣量還是比較高的。另外，由于制造時焊接工藝的質量或運輸過程中，受震動或安裝操作上的不當?shù)仍?，造成漏氣的可能性也是存在的。因此，真空滅弧室制成出廠以后，并不能永遠維持真空的壓強，而是有一定的真空壽命。隨著時間的增加，滅弧室外的真空度將降低。經(jīng)過嚴格電真空工藝處理的真空滅弧室，影響真空度的主要因素為工作表面的放氣與吸氣過程。隨著工作時間的增長，滅弧室的微漏氣也會導致其真空度下降。使絕緣和開斷性能降低，發(fā)展到一定程度，真空斷路器將喪失其工作能力。滅弧室真空狀況直接影響電力系統(tǒng)運行的安全性。因此，對服役真空滅弧室真空度測定尤為重要。

　　由本公司開發(fā)研制的ZKY-III真空度測試儀是一套計算機實時數(shù)據(jù)采集處理系統(tǒng)，它采用*的磁控放電技術，并利用*的單片機技術，配以專業(yè)設計的勵磁線圈，實現(xiàn)了現(xiàn)場不拆卸實時數(shù)據(jù)采集處理和微機同步監(jiān)視，測量精度高，數(shù)字化顯示，操作簡便，使用維護方便，檢測過程僅二十秒左右，為用戶掌握真空滅弧室真空狀態(tài)，有計劃的更換滅弧室提供了可靠依據(jù)。對電網(wǎng)的安全運行提供了有力的保障。

二、測試原理

　　將滅弧室的兩觸頭拉開一定的開距，施加脈沖高壓，將新型電磁線圈環(huán)繞于滅弧室外側，向線圈通以大電流，從而在滅弧室內產(chǎn)生與高壓同步的脈沖強磁場和強電場的作用下，滅弧室中的電子做螺旋運動，并與殘余氣體分子發(fā)生碰撞電離，所產(chǎn)生的離子電流與殘余氣體密度即真空度近似成比例關系。對于不同的真空管型號（管型），同于其結構不同，在同等觸頭開距，同等真空度，同等電場與磁場的條件下，離子電流間的對應關系曲線。當測知離了電流后，就可以通過查詢管型的離了電流一真空度曲線獲得該管型的真空度。這一過程由計算機自動完成。

三、性能指標

　　1、適用范圍：各種型 號、電壓等級及材料真空管
　　2、開關開距：正常使用開距
　　3、檢驗范圍：10°～10-6 Pa
　　4、測量精度：優(yōu)于 5%
　　5、使用環(huán)境：-20℃～+40℃
　　6、主機重量：7Kg
　　7、外形尺寸：380×280×250（mm）

四、技術參數(shù)

　　1、供電電壓：AC220V±10% 50Hz±1
　　2、脈沖高壓輸出：15KV
　　3、磁場電壓輸出：1200V

五、顯示模塊說明
 

　　1、管型顯示 2、數(shù)量級指示燈 3、數(shù)值顯示4、檢測項目指示燈 5、數(shù)值顯示
在正常檢測狀態(tài)下：

　　1、管型顯示模塊內顯示數(shù)字表示被測真空滅弧室的類型，您可以用管型拔碼器上"+"及"-"按鍵輸入需要被測真空滅弧室的管型（同管徑?jīng)Q定）。
管型對應表