目錄:孚光精儀(中國)有限公司>>表面微納測量>>原子力顯微鏡>> FPDEL-nsom近場掃描光學(xué)顯微鏡
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子,航天,電氣 |
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近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM采用SNOM技術(shù)幫助用戶獲得大的光學(xué)空間分辨率,具有原子力顯微鏡模式和光子計(jì)數(shù)模式的熒光和光學(xué)圖像。
近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM特點(diǎn)
具有原子力顯微鏡AFM工作模式
具有激光和燈泡照明成像
可以提供訂制化探針
光子計(jì)數(shù)模式的熒光和光學(xué)圖像
近場掃描光學(xué)圖像具有采集和照明模式
透過或反射模式選配
20nm光學(xué)分辨率(Raleigh標(biāo)準(zhǔn)空間分辨率)
光學(xué)顯微鏡支架,配備長工作距離物鏡
飛秒激光或紫外激光激發(fā)
真實(shí)單分子探測
環(huán)境光防護(hù)裝置
近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM應(yīng)用
分子光譜學(xué),熒光,表面科學(xué),薄膜,生物學(xué),化學(xué),固體物理,納米技術(shù),材料科學(xué),醫(yī)學(xué)等
近場掃描光學(xué)顯微鏡NSOM規(guī)格參數(shù)
(XY樣品掃描器部分)
20mm直徑,中間開口
大掃描尺寸: 40μm x 40μm
小掃描步進(jìn): 0.01nm
大圖像尺寸: 1024 x 1024像素
XY大行程: 10mm x 10mm (計(jì)算機(jī)控制)
光學(xué)分辨率: 50nm典型值 (受探針和樣品影響)
(壓電Z軸臺安裝探針)
大Z-升降行程: 9 mm
Z掃描大范圍: ±5 μm
(光子計(jì)數(shù))
大光子計(jì)數(shù)速率: 5 x 107 cps
暗計(jì)數(shù): < 10 cps
光譜相應(yīng): 185 - 680 nm (185 nm - 850nm可選)
(照明光源)
150 W quartz - halogen lamp
670 nm laser diode
532 nm solid state laser
488 nm Ar-ion or solid state laser
400 nm femtosecond laser
(建議探針)
633 nm single mode, Al - coated (50 - 80 nm aperture), 100 kHz resonance
400 nm single mode, Al - coated (<100 nm aperture), 32 kHz resonance
尺寸
光學(xué)單元部分(帶有 light-tight box): 350 (W) x 460 (D) x 460 (H)mm
電子控制單元部分: 19" rack mountable or 170 (W) x 420 (D) x 200 (H)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)