產品簡介
詳細介紹
Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,其特點為:高分辨率,固態(tài)探測器; 分析有害物質,元素分析分之 ppm - 100%, 符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應用; 測量多層鍍層或錫鉛成分分析;電鍍溶液分析;定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
本公司還供應上述產品的同類產品:日本ROHS檢測儀,德國ROHS檢測儀,韓國ROHS檢測儀