北京利曼科技有限公司
利曼Prodigy直流電弧光譜儀 (DC Arc) 測定高純硅中的痕量元素
檢測樣品：高純硅
檢測項目：鋁 硼 鈣 鉻 銅 鐵 錳 鎳 磷 鈦 釩
方案概述：本文檢測樣品中的鋁、硼、鈣、鉻、銅、鐵、錳、鎳、磷、鈦和釩等，證明TeledyneLeemanLabsProdigy直流電弧光譜儀測定高純硅中痕量元素的能力。
硅是地殼中第二常見的元素，其熔點為1414℃。但自由態(tài)的硅元素很少在自然界中找到。由于其電阻性和相對高的熱傳導(dǎo)性能，硅被廣泛應(yīng)用。高純硅被廣泛應(yīng)用于太陽能工業(yè)，例如被制成硅晶片，太陽能電池和硅基半導(dǎo)體。作為合金，硅鐵合金占世界上硅制品的絕大多數(shù)，被用于鋼鐵工業(yè)。硅同樣用于改善鋁的硬度和抗磨性，使其可用于鋼鐵生產(chǎn)。
本文檢測樣品中的鋁、硼、鈣、鉻、銅、鐵、錳、鎳、磷、鈦和釩等，證明Teledyne Leeman Labs Prodigy直流電弧光譜儀測定高純硅中痕量元素的能力。
相關(guān)產(chǎn)品清單
溫馨提示：
1.本網(wǎng)展示的解決方案僅供學(xué)習(xí)、研究之用，版權(quán)歸屬此方案的提供者，未經(jīng)授權(quán)，不得轉(zhuǎn)載、發(fā)行、匯編或網(wǎng)絡(luò)傳播等。
2.如您有上述相關(guān)需求，請務(wù)必先獲得方案提供者的授權(quán)。
3.此解決方案為企業(yè)發(fā)布，信息內(nèi)容的真實性、準(zhǔn)確性和合法性由上傳企業(yè)負(fù)責(zé)，化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
最新解決方案
- 光刻膠關(guān)鍵物質(zhì)-光酸劑-CAD 檢測器應(yīng)用簡報
- 光刻膠關(guān)鍵物質(zhì)-光酸劑-CAD 檢測器應(yīng)用簡報 三氟丁基磺酸根
- 精密鼓風(fēng)干燥箱在手機主板缺陷測試實踐
- “鄰”危受命，全面應(yīng)對 | 譜育科技針對RoHS 2.0中鄰苯二甲酸酯檢測解決方案
- GNR殘余應(yīng)力分析儀EDGE對激光水平儀的測試
- MLCC用內(nèi)電極鎳漿的分散解決方案
- LISICO LS-1分散均質(zhì)分析測試儀在MLCC用鈦酸鋇漿料的應(yīng)用
- 紅外光譜法分析光刻膠的主成分
- 微波馬弗爐處理—火焰原子吸收光譜法測定廢舊電路板中金銀鉑鈀
- 【CEM】電子設(shè)備組件樣品制備用于IEC 62321-7-2:2017方法六價鉻含量分析
該企業(yè)的其他方案
業(yè)界頭條
- 深圳傅里葉紅外光譜儀中標(biāo)結(jié)果公告
-
項目名稱：傅里葉紅外光譜儀，項目編號：0664-2440SUMECT03，招標(biāo)范圍：傅里葉紅外光譜儀...
