ELITE 系統(tǒng) 賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng)
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號 ELITE 系統(tǒng)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/1/3 13:34:54
- 訪問次數(shù) 41
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聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
欲了解更多信息，請瀏覽公司網(wǎng)站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進(jìn)入中國發(fā)展已超過35年，在中國的總部設(shè)于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設(shè)立了分公司，員工人數(shù)約為5000名。我們的產(chǎn)品主要包括分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、試劑、耗材和軟件等，提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案，為各行各業(yè)的客戶服務(wù)。為了滿足中國市場的需求，現(xiàn)有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運(yùn)營。我們在全國還設(shè)立了8個(gè)應(yīng)用開發(fā)中心以及示范實(shí)驗(yàn)室，將世界級的前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給中國客戶，并提供應(yīng)用開發(fā)與培訓(xùn)等多項(xiàng)服務(wù)；擁位于上海的中國創(chuàng)新中心，擁有有100多位專業(yè)研究人員和工程師及70多項(xiàng)專利。創(chuàng)新中心專注于針對垂直市場的產(chǎn)品研究和開發(fā)，結(jié)合中國市場的需求和國外先進(jìn)技術(shù)，研發(fā)適合中國的技術(shù)和產(chǎn)品；我們擁有遍布全國的維修服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和特別成立的中國技術(shù)培訓(xùn)團(tuán)隊(duì)，在全國有超過2600名專業(yè)人員直接為客戶提供服務(wù)。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。
欲了解更多信息，請登錄網(wǎng)站：www.thermofisher.com 全國服務(wù)熱線：021-61621892公司電子郵箱：sales.china@thermofisher.com
科學(xué)儀器
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
隨著“超越摩爾定律”技術(shù)的普及，封裝和組裝相關(guān)缺陷變得越來越難以識別?；ミB更加精細(xì)、更加復(fù)雜；芯片和封裝被堆疊并平鋪為復(fù)雜結(jié)構(gòu)。焊點(diǎn)間距更小，而基板則采用更高的圖案密度和嵌入式組件。缺陷在不斷增加，缺陷檢測則變得更加困難。
通過使用具有最高靈敏度的高分辨率鎖相熱成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統(tǒng)系統(tǒng)為各種缺陷類型的通孔封裝缺陷、片上缺陷甚至板載電氣缺陷的定位提供了一套重要解決方案，這些缺陷包括電源或線路短路、ESD 缺陷、電流泄漏、氧化傷害、缺陷晶體管和二極管、器件閂鎖以及電阻性開路。
ELITE 是第一款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無損實(shí)時(shí) LIT 的集成系統(tǒng)。ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學(xué)器件和高級算法，具有出眾的性能，并可以在最短時(shí)間內(nèi)獲得結(jié)果，通過為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關(guān)鍵信息，有效縮短分析學(xué)習(xí)的周期。
另外，由于具有所有無損技術(shù)中最高的熱靈敏度，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統(tǒng)系統(tǒng)能夠檢測具挑戰(zhàn)性的缺陷，無需開封檢查或從封裝中取出芯片，甚至無需對 IC 器件進(jìn)行剝層，因而消除了使用有損方法時(shí)意外遺漏故障的風(fēng)險(xiǎn)。
此外，ELITE 系統(tǒng)可與其他無損技術(shù)（例如掃描聲學(xué)顯微鏡 (SAM) 或二維和三維 X 射線技術(shù)）相結(jié)合，通過傳遞故障位置的精確 x、 y 和 z 坐標(biāo)，加快獲得結(jié)果的速度并提高成功率，從而在需要深度信息或存在微小特征時(shí)顯著縮小 X 射線和 SAM 的搜索半徑并縮短檢查時(shí)間。ELITE 系統(tǒng)還提供配備固體浸沒透鏡 (SIL) 和 S-LSM 選項(xiàng)的高分辨率光學(xué)器件，可實(shí)現(xiàn)很高水平的分辨率和圖像質(zhì)量。
主要優(yōu)勢：
無損，無需開封檢查，無需逆向處理，沒有遺漏或損害缺陷證據(jù)的風(fēng)險(xiǎn)
快速識別 精確定位集成電路板上的缺陷元件
定位缺陷在x-y方向有微米精度，深度定位精度 20 μm
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