CTRM750 熱反射式顯微鏡是韓國Nanoscope Systems 公司專門為半導體研究等所專門研發(fā)的一款顯微鏡。整合了共聚焦和熱反射式模塊，在測量樣品表面3D輪廓同時可以測量樣品表面的實際熱量分布。其熱反射式模塊采用熱反射式的原理，搜集目標樣品亮度隨溫度的變化值，并且利用函數得到熱反射系數（κ）， 將熱反射系數（κ）輸入系統(tǒng)中進行測量就可以得到目標樣品熱分布圖像的實際溫度值。  

Features & Benefits（性能及優(yōu)勢）：

1.    高分辨無損傷光學3D測量

2.       實時共聚焦成像

3.       多種光學變焦

4.       自動傾斜補償

5.        雙Z軸掃描

6.        緊湊的模塊尺寸

7.        放式的模塊

8.         操作簡單

主要功能：

共聚焦模塊

1.    3D 輪廓測量

    在共聚焦模式下，設置Z方向的測量范圍，可以獲得樣品表面高清晰的3D 輪廓圖像,并且可以分析樣品在不同溫度下表面膨脹數據。

2.    實時共聚焦成像

  通過Live模式，可以導出樣品實時的共聚焦Video.

熱反射成像模塊

1.       Synchronous

    在Synchronous模式下時,此方法通過匹配信號源的周期和相機的測量時序來獲取熱反射圖像

2.       ASynchronous

  在Asynchronous模式下時，此方式下信號源的生成周期與相機測量無關。以此方式測量的圖像隨后通過單獨的TRMeter 獲得熱分布圖像。

TRViewer（軟件）：

Transient thermal imaging (瞬態(tài)成像)

Application field(應用領域）：

Specifications（參數）：