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渦流法方阻測試儀

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 九域半導體科技（蘇州）有限公司
品牌 其他品牌
型號
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2024/11/18 16:00:41
訪問次數 106

產品標簽

渦流法方阻方塊電阻無損非接觸電阻率

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公司介紹 主營產品

公司成立于2021年，是一家注冊在蘇州、具備技術的非接觸式半導體檢測分析設備制造商。公司集研發(fā)、設計、制造、銷售于一體，主要攻克國外壟斷技術，替代進口產品，使半導體材料測試設備國產化。

主要產品：非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀、方阻測試儀、硅片電阻率測試儀、渦流法高低電阻率分析儀、晶錠電阻率分析儀、渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀、遷移率（霍爾）測試儀、少子壽命測試儀，晶圓、硅片厚度測試儀、表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借*的技術和豐富的產品設計經驗，申請各項知識產權20余項，已發(fā)展成為中國大陸少數具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商，產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可，并取得良好的市場口碑。

展開

晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率測試儀，少子壽命測試儀

詳細信息 在線詢價

價格區(qū)間	面議	應用領域	電子,電氣,綜合
自動化度	手動

‌‌方阻是指一個正方形‌薄膜導電材料邊到邊的電阻‌，也稱為方塊電阻或‌膜電阻。方阻是衡量薄膜狀導電材料（如‌蒸發(fā)鋁膜、‌導電漆膜、印制電路板銅箔膜等）厚度的一個參數，其大小與材料的電阻率和厚度有關。‌

特性

方阻的特性是，無論正方形的邊長如何，其邊到邊的電阻值都是相同的。這意味著，不管正方形的邊長是1米還是1毫米，其方阻值都是一樣的。方阻僅與導電膜的厚度和電阻率有關，與樣品的尺寸無關。

渦流法方阻測試儀描述

設備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導體材料，石墨烯，透明導電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）。

可實現單點測試，亦可以實現面掃描的測試功能，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質量控制。

特點

本儀器為非接觸，非損傷測試，具有測試速度快，重復性佳，測試敏感性高，可以直接測試產品片。

技術參數

參數	探頭	方阻范圍	電阻率范圍	測試方法
量程	低阻探頭	0.005-1 Ω/sq	0.25-50 mΩ·cm	渦流法，非接觸式
	中阻探頭	0.05-10 Ω/sq	2.5-500 mΩ·cm
	高阻探頭	10-3000 Ω/sq	0.5-150 Ω·cm
	錠探頭	0.01-2 Ω·cm
重復性	＜ 0.2% ( ≤ 50%量程范圍）		＜ 0.5% ( > 50%量程范圍）
準確度	＜ ±3% ( ≤ 50%量程范圍）		＜ ±3% ( > 50%量程范圍）
探頭信息	探頭類型：雙探頭（上下探頭，間距2 - 3mm）探頭直徑：外徑20mm，內徑14mm（有效測試部分）
坐標設置	任意坐標設置
存儲數據	數據庫內部存儲（可導出表格文件） PDF測試報告，含測試信息（時間、操作員）、wafer信息（編號、尺寸、厚度），數據信息（測試點數，**值，最小值，平均值，相對標準偏差等），等高線圖，曲面圖等。 CSV表格數據可存儲至遠端服務器，可根據客戶需求修改相關報告信息
WAFER信息	尺寸：2”- 8”（英寸）厚度：100 - 1500 μm
系統(tǒng)要求	供電：AC220V,50/60Hz 功率：600W 環(huán)境：溫度24℃±10℃ 相對濕度：20%-80%RH 尺寸：975465425(mm) 壽命：> 10年

渦流法原理

當載有交變電流的檢測線圈靠近被測導體，由于線圈上交變磁場的作用，被測導體感應出渦流并產生與原磁場方向相反的磁場，

部分抵消原磁場，導致檢測線圈電阻和電感變化。

電阻率 = 方阻 × Wafer厚度

方阻和 V 具有關系

電阻率是用來表示物質電阻特性的物理量，是材料本身的電學性質。

適用材料

材料	電阻率	方阻
Silicon wafer	Y	Y
SiC wafer / Ingot	Y	Y
GaO wafer / Ingot	Y	Y
GaN wafer 2DEGI	Y	Y
GaAs 2EDG		Y
IGZO/LTPS/ITO		Y
TCO(Touch panel)		Y
Graphene		Y
Metal film		Y

穩(wěn)定性

相對標準偏差=0.0150%@中點15次重復性

方阻Mapping55點測試報告

報告時間	2023/10/26 13:51	測試樣本數	55
分析時間	2023/10/26 13:47	**電阻率	0.0232
操作員ID	admin	最小電阻率	0.02277
批次ID	0	平均電阻率	0.02293
樣片ID	A-1-55	標準偏差	0.000111
尺寸規(guī)格	100mm	相對標準偏差	0.4861%

動態(tài)重復性逐點（38點坐標）一致性數據如下(樣品面的測量5次)

	一	二	三	四	五	重復性	Max
1	0.12459	0.12466	0.12467	0.12471	0.12472	0.0413%	0.0703%
2	0.12347	0.12351	0.12356	0.12358	0.12362	0.0477%
3	0.12315	0.12321	0.12323	0.12326	0.12329	0.0431%
4	0.12389	0.12398	0.124	0.12402	0.12405	0.0489%
5	0.12421	0.12424	0.12428	0.12438	0.12441	0.0703%
6	0.12396	0.12403	0.12406	0.12408	0.12412	0.0484%
7	0.12387	0.12389	0.12398	0.124	0.12403	0.0566%
8	0.12482	0.12486	0.1249	0.12493	0.12496	0.0444%
9	0.12431	0.12434	0.1244	0.12447	0.12451	0.0679%
10	0.12429	0.12435	0.12438	0.12442	0.12445	0.0500%
11	0.12372	0.12378	0.1238	0.12383	0.12386	0.0429%
12	0.12381	0.12389	0.12392	0.12393	0.12396	0.0462%
13	0.1237	0.12374	0.1238	0.12381	0.12385	0.0481%
14	0.12386	0.12394	0.12396	0.12399	0.12403	0.0512%
15	0.12394	0.124	0.12404	0.12407	0.12409	0.0482%
16	0.12496	0.125	0.12504	0.12507	0.12509	0.0421%
17	0.1245	0.12454	0.12452	0.12464	0.12465	0.0562%
18	0.12414	0.12418	0.12422	0.12425	0.12427	0.0424%
19	0.12392	0.12396	0.124	0.12404	0.12406	0.0462%
20	0.12487	0.12491	0.12496	0.12501	0.12501	0.0495%
21	0.12355	0.1236	0.12363	0.12367	0.12372	0.0526%
22	0.12402	0.12409	0.12412	0.12415	0.12417	0.0473%
23	0.12442	0.12444	0.12453	0.12456	0.12458	0.0578%
24	0.12419	0.12423	0.12428	0.12431	0.12434	0.0486%
25	0.12388	0.12395	0.12396	0.12398	0.12403	0.0438%
26	0.12501	0.12505	0.12509	0.12512	0.12516	0.0468%
27	0.1244	0.12444	0.12453	0.12453	0.12458	0.0592%
28	0.12441	0.12445	0.12452	0.12453	0.12457	0.0519%
29	0.12385	0.12389	0.12393	0.12396	0.124	0.0473%
30	0.12379	0.12383	0.12385	0.12387	0.12392	0.0389%
31	0.12367	0.1237	0.12372	0.12374	0.12381	0.0425%
32	0.12393	0.12397	0.12402	0.12403	0.12409	0.0492%
33	0.12394	0.12396	0.124	0.12405	0.12409	0.0502%
34	0.12506	0.12509	0.12514	0.12519	0.12521	0.0510%
35	0.12449	0.12452	0.12459	0.12465	0.12466	0.0610%
36	0.12423	0.12423	0.12431	0.12434	0.12436	0.0491%
37	0.12382	0.12386	0.12386	0.12392	0.12395	0.0421%
38	0.12494	0.12497	0.12502	0.12508	0.12508	0.0507%

不同阻值穩(wěn)定性測試如下（1000個數據分統(tǒng)計）

	真實值	靜態(tài)	動態(tài)
穩(wěn)定性	0.1013	0.05%	0.05%
	0.1596	0.04%	0.04%
	0.2884	0.05%	0.06%
	0.5657	0.07%	0.05%
	0.9746	0.07%	0.08%
	1.5941	0.11%	0.09%
	3.1808	0.16%	0.27%
	16.662	0.48%	0.96%
	56.4	0.03%	0.05%
	180.6	0.10%	0.10%
	264.4	0.10%	0.16%
	573.7	0.28%	0.36%
	750.9	0.34%	0.43%

非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀，方阻測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，晶圓、硅片厚度測試儀，表面光電壓儀JPV\SPV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、氧化鎵、金屬薄膜、玻璃、襯底和外延廠商提供測試和解決方案。

憑借先進的技術和豐富的產品線，已發(fā)展成為中國大陸少數具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商，產品得到眾多國內外主流半導體廠商的認可，并取得良好的市場口碑。

主要應用領域：碳化硅測試、氮化鎵測試、晶圓硅片測試、氧化鎵測試、金屬薄膜測試、玻璃測試、襯底和外延廠商、光伏電池片測試。

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