為了確保復雜光學設計在生產之后的實施，必須使用合格的測量技術。波前測量特別適合于此目的，因為它在空間分辨的基礎上，即在所有場角和整個樣品孔徑上確定圖像質量。與傳統(tǒng)的MTF測試相比，這不僅導致基于點的質量測量，而且在整個孔徑上連續(xù)對齊。

高度的靈活性
WaveSensor 和 WaveMaster { 0 的醉大動態(tài)范圍可達 2000 λ，允許在鏡頭設計中進行高靈活性的測量。

可重復的高精度
除了高達λ/20（RMS）的測量精度外，由于緊湊、堅固和抗振動設計，還可實現(xiàn)λ/200（RMS）的高重復性。

即時評估
實時地將測量的波前數(shù)據(jù)的結果與樣品透鏡的結果或設計值進行比較和評估。

產品概述
這些傳感器實時分析整個光學裝置或單個表面，提供波前（PV，RMS），Zernike系數(shù)，點擴展函數(shù)（PSF），調制傳遞函數(shù)（MTF），Strehl比，曲率半徑和非球面系數(shù)的測定。因此，不僅可以得出關于質量控制的結論，而且還可以得出關于生產過程的結論。