Park NX15原子力顯微鏡
- 公司名稱 上海珩澤科技有限公司
- 品牌 Park
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/12 9:02:15
- 訪問(wèn)次數(shù) 1762
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),建材,電子,制藥 |
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Park NX15原子力顯微鏡不僅非常適合共享實(shí)驗(yàn)室里的研究人員處理各種樣品、進(jìn)行多變量實(shí)驗(yàn),也同樣適合故障分析工程師處理晶圓的系統(tǒng)性工作。
便捷的樣品測(cè)量(包含多樣品掃描)
一次可對(duì)多個(gè)樣品自動(dòng)成像
設(shè)計(jì)的多樣本卡盤,一次至多可裝載9個(gè)單獨(dú)樣品(可選)
全電動(dòng)XY樣品臺(tái)行程可達(dá) 150 mm x 150 mm
通過(guò)消除掃描器串?dāng)_進(jìn)行精準(zhǔn)的XY掃描
獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器
正交XY掃描
無(wú)需軟件處理即可保留真實(shí)可信的樣品表面形貌信息
真正非接觸模式實(shí)現(xiàn)探針使用壽命、成像分辨率和樣品的有效保護(hù)
快速的Z伺服速度,實(shí)現(xiàn)真正的非接觸模式
針尖磨損微小化,可實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)時(shí)間的高質(zhì)量和高分辨率成像
多種模式和選項(xiàng)
全面性的測(cè)量模式和表征方法
可實(shí)現(xiàn)可選配件和升級(jí)擴(kuò)展功能
用于故障分析(FA)的精密電學(xué)測(cè)量
Park NX15原子力顯微鏡 參數(shù)
掃描器
Z掃描器
柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器
Z掃描范圍:15μm(30 μm可選)
XY掃描器
閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍:100μmx 100μm
光學(xué)
帶視覺相機(jī)的同軸光學(xué)系統(tǒng)
物鏡:10x放大
視場(chǎng):
480 μm X 360 μm(默認(rèn) 120 萬(wàn)像素視覺相機(jī))
840 μm X 630 μm( 默認(rèn) 500 萬(wàn)像素視覺相機(jī))
電路系統(tǒng)
信號(hào)處理
ADC: 用于 X,Y和Z 掃描器位置傳感器的 24 位 ADC
DAC: 用于 X,Y和Z 掃描器定位的 20 位 DAC
樣品臺(tái)
Z位移臺(tái)行程范圍:25.5 mm
XY位移臺(tái)行程范圍:150 mm X 150mm
樣品大?。?/span>可滿足150 mm wafer 樣品