BRUKER Dektak-XT Dektak-XT桌面型探針式表面輪廓儀
- 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
- 品牌 Alicona/奧地利
- 型號 BRUKER Dektak-XT
- 產(chǎn)地 馬來西亞
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2024/9/25 15:14:29
- 訪問次數(shù) 1384
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 20萬-30萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,石油,能源,電子 |
探針式表面輪廓儀
布魯克探針式表面輪廓儀(又稱“臺階儀”)歷今四十載,積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試,Dektak臺階儀適用面極廣,為用戶提供準(zhǔn)確性高,重復(fù)性佳的測量結(jié)果。
在教育、科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制,Dektak廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。近幾年,Dektak系統(tǒng)已經(jīng)成為發(fā)展的太陽能電池市場越的測試工具,也被許多主要的光伏太陽能電池制造商所認(rèn)可。
DektakXT
桌面型探針式表面輪廓儀
布魯克DektakXT®臺階儀設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達4埃。這項測量性能的提高,達到了過去四十年Dektak®體系技術(shù)創(chuàng)新的,更加穩(wěn)固了其行業(yè)中的地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,在研究工作中的廣泛使用是的DektakXT地功能更強大,操作更簡便易行,檢測過程和數(shù)據(jù)采集也更加完善。技術(shù)的突破也實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
探針式輪廓儀的黃金標(biāo)準(zhǔn)
DektakXT®探針式輪廓儀革命性的突破設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了垂直高度重復(fù)性高達4埃,數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破,使得DektakXT實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。
技術(shù)創(chuàng)新四十余載,不斷突破用攀高峰
Dektak品牌是*基于微處理器控制的輪廓儀,*實現(xiàn)微米測量的臺階儀,*可以達到3D測量的儀器,*個人電腦控制的輪廓儀,*全自動300mm臺階儀?,F(xiàn)在,全新的DektakXT延續(xù)了這種開創(chuàng)性的風(fēng)格,成為一臺采用具有具有單拱龍門式設(shè)計,配備HD攝像機,并且利用64位同步數(shù)據(jù)處理模式完成測量和操作效率的臺階儀。
提高測量和數(shù)據(jù)分析速度
*采用*高速的直接驅(qū)動掃描樣品臺,DektakXT在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下,大大縮短了每次掃描的間隔時間,將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用布魯克具有64位數(shù)據(jù)采集同步分析的Vision64,可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快數(shù)據(jù)濾波和多次掃描數(shù)據(jù)庫分析的速度。
提高操作的可重復(fù)性
使用單拱龍門結(jié)構(gòu)設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。DektakXT會把系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降到,能夠更穩(wěn)定可靠的掃描高度小于10nm的臺階,獲得其形貌特征。
完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)
與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是布魯克Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡潔的用戶界面,具備智能板塊,可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。
簡便易行的實驗操作系統(tǒng)
DektakXT新穎的探針的部件自動對準(zhǔn)裝置,可以盡量避免用戶在裝針的過程中出現(xiàn)針尖損傷等意外。為盡可能滿足所有應(yīng)用的需求,布魯克提供各種尺寸的標(biāo)準(zhǔn)探針和特制探針。
高效率的保證
DektakXT的測量重復(fù)性為工程師們提供準(zhǔn)確的薄膜厚度和應(yīng)力測量,使其可以調(diào)節(jié)刻蝕和鍍膜工藝來提高產(chǎn)品的優(yōu)良率。
DektakXT儀器特性
的性能和優(yōu)于4埃(<4 Å)的測量重復(fù)性
· 單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性
· 先進的”智能化電子器件”實現(xiàn)了低噪聲的新*
高效率且易于使用
· 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程
· *的傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量
· 自對準(zhǔn)的探針設(shè)計使用戶可以輕而易舉地更換探針