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          BRUKER Dektak-XT Dektak-XT桌面型探針式表面輪廓儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱 北京亞科晨旭科技有限公司
          • 品牌 Alicona/奧地利
          • 型號 BRUKER Dektak-XT
          • 產(chǎn)地 馬來西亞
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
          • 更新時間 2024/9/25 15:14:29
          • 訪問次數(shù) 1384

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          公司自成立以來就一直專注于半導(dǎo)體、微組裝和電子裝配等領(lǐng)域的設(shè)備集成和技術(shù)服務(wù);目前公司擁有一支在半導(dǎo)體制造、微組裝及電子裝配等領(lǐng)域經(jīng)驗豐富的專業(yè)技術(shù)團隊,專業(yè)服務(wù)于混合電路、光電模塊、MEMS、先進封裝(TSV、Fan-out等)、化合物半導(dǎo)體、微波器件、功率器件、紅外探測、聲波器件、集成電路、分立器件、微納等領(lǐng)域。我們不僅能為客戶提供整套性能可靠的設(shè)備,還能根據(jù)客戶的實際生產(chǎn)需求制訂可行的工藝技術(shù)方案。
          目前亞科電子已與眾多微電子封裝和半導(dǎo)體制造設(shè)備企業(yè)建立了良好的合作關(guān)系(如:BRUKER、EVG、TRYMAX、CAMTEK、CENTROTHERM、SENTECH、ENGIS、ADT、SONOSCAN、ASYMTEK、MARCH、PANASONIC、HYBOND、OKI、KEKO等),為向客戶提供先進的設(shè)備和專業(yè)的技術(shù)服務(wù)打下了堅實基礎(chǔ)。

           

          半導(dǎo)體設(shè)備,微組裝設(shè)備,LTCC設(shè)備,化工檢測設(shè)備

          產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 20萬-30萬
          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,能源,電子

          探針式表面輪廓儀

          布魯克探針式表面輪廓儀(又稱臺階儀)歷今四十載,積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量,到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試,Dektak臺階儀適用面極廣,為用戶提供準(zhǔn)確性高,重復(fù)性佳的測量結(jié)果。

           

          在教育、科研領(lǐng)域和半導(dǎo)體制程控制,Dektak廣泛用于膜厚、應(yīng)力、表面粗糙度和面形的測量。近幾年,Dektak系統(tǒng)已經(jīng)成為發(fā)展的太陽能電池市場越的測試工具,也被許多主要的光伏太陽能電池制造商所認(rèn)可。

           

          DektakXT

           

          桌面型探針式表面輪廓儀

          布魯克DektakXT®臺階儀設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率,垂直高度重復(fù)性高達4埃。這項測量性能的提高,達到了過去四十年Dektak®體系技術(shù)創(chuàng)新的,更加穩(wěn)固了其行業(yè)中的地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,在研究工作中的廣泛使用是的DektakXT地功能更強大,操作更簡便易行,檢測過程和數(shù)據(jù)采集也更加完善。技術(shù)的突破也實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

           

          探針式輪廓儀的黃金標(biāo)準(zhǔn)

          DektakXT®探針式輪廓儀革命性的突破設(shè)計創(chuàng)新,實現(xiàn)了垂直高度重復(fù)性高達4埃,數(shù)據(jù)采集能力提高了40%。這一里程碑的創(chuàng)新和突破,使得DektakXT實現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

           

          技術(shù)創(chuàng)新四十余載,不斷突破用攀高峰

           

          Dektak品牌是*基于微處理器控制的輪廓儀,*實現(xiàn)微米測量的臺階儀,*可以達到3D測量的儀器,*個人電腦控制的輪廓儀,*全自動300mm臺階儀?,F(xiàn)在,全新的DektakXT延續(xù)了這種開創(chuàng)性的風(fēng)格,成為一臺采用具有具有單拱龍門式設(shè)計,配備HD攝像機,并且利用64位同步數(shù)據(jù)處理模式完成測量和操作效率的臺階儀。

           

           

           

          提高測量和數(shù)據(jù)分析速度

           

          *采用*高速的直接驅(qū)動掃描樣品臺,DektakXT在不犧牲分辨率和基底噪音水平的前提下,大大縮短了每次掃描的間隔時間,將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用布魯克具有64位數(shù)據(jù)采集同步分析的Vision64,可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快數(shù)據(jù)濾波和多次掃描數(shù)據(jù)庫分析的速度。

          提高操作的可重復(fù)性

           

          使用單拱龍門結(jié)構(gòu)設(shè)計更堅硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。DektakXT會把系統(tǒng)和環(huán)境噪音引起的測量誤差降到,能夠更穩(wěn)定可靠的掃描高度小于10nm的臺階,獲得其形貌特征。

           

           

           

           

          完善的數(shù)據(jù)采集和分析系統(tǒng)

           

          DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計相得益彰的配置是布魯克Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上簡潔的用戶界面,具備智能板塊,可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。

           

          簡便易行的實驗操作系統(tǒng)

           

          DektakXT新穎的探針的部件自動對準(zhǔn)裝置,可以盡量避免用戶在裝針的過程中出現(xiàn)針尖損傷等意外。為盡可能滿足所有應(yīng)用的需求,布魯克提供各種尺寸的標(biāo)準(zhǔn)探針和特制探針。

           

          高效率的保證

           

          DektakXT的測量重復(fù)性為工程師們提供準(zhǔn)確的薄膜厚度和應(yīng)力測量,使其可以調(diào)節(jié)刻蝕和鍍膜工藝來提高產(chǎn)品的優(yōu)良率。

           

          DektakXT儀器特性

          的性能和優(yōu)于4埃(<4 Å)的測量重復(fù)性

          · 單拱龍門式設(shè)計實現(xiàn)了突破性的掃描穩(wěn)定性

          · 先進的智能化電子器件實現(xiàn)了低噪聲的新*

          高效率且易于使用

          · 直觀化的Vision64TM軟件簡化了用戶界面的操作過程

          · *的傳感器設(shè)計使得在單一平臺上即可實現(xiàn)超微力和較大的力測量

          · 自對準(zhǔn)的探針設(shè)計使用戶可以輕而易舉地更換探針

           



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