Line--scan 線掃描膜厚儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號(hào) Line--scan
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2020/6/12 16:24:06
- 訪問(wèn)次數(shù) 1770
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zeta電位?粒徑?分子量測(cè)量系統(tǒng),晶圓在線測(cè)厚系統(tǒng),線掃描膜厚儀,顯微分光膜厚儀,線掃描膜厚儀,分光干涉式晶圓膜厚儀,相位差膜?光學(xué)材料檢測(cè)設(shè)備,非接觸光學(xué)膜厚儀,小角激光散射儀,多檢體納米粒徑量測(cè)系統(tǒng),量子效率測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,電子,印刷包裝,電氣 |
線掃描膜厚儀可在線檢查整面寬幅薄膜,適用于生產(chǎn)。不受偏差的影響,高速測(cè)量,時(shí)間間隔僅10豪秒。
線掃描膜厚儀特點(diǎn)
- 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜
- 硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)
- 作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援
- 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
- 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量
- 不受偏差影響
- 可對(duì)應(yīng)寬幅樣品(TD方向大可測(cè)量10m)
式樣
測(cè)量項(xiàng)目 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm |
測(cè)量寬幅 | 500mm |
波長(zhǎng)范圍 | 400~920nm |
各單元的波長(zhǎng)寬幅 | 約0.6nm |
膜厚測(cè)量范圍 | 2~250μm |
測(cè)量間隔 | 10msec~ |
測(cè)量案例
500mm寬的包裝薄膜
實(shí)時(shí)測(cè)量,全寬、全長(zhǎng)的不均勻性一幕了然。
因?yàn)槲覀兪欠止饽ず駵y(cè)量的,所以能實(shí)現(xiàn)高精度全寬·全長(zhǎng)的測(cè)量。