線掃描膜厚儀離線型
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 大塚電子(蘇州)有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大冢
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2020/6/12 16:24:38
- 訪問次數(shù) 1128
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,印刷包裝,電氣 |
線掃描膜厚儀離線型
產(chǎn)品信息
特點
·全面·高速·高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測
·硬件·軟件均為創(chuàng)新設(shè)計
·作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援
·實現(xiàn)高精度測量
·實現(xiàn)高速測量(500萬點以上/分)
式樣
測量位置 | 膜厚(FFT) |
位置分解能 | 1mm以下 |
測量尺寸 | 大250mm寬×無限長度限制 |
波長范圍 | 400~920nm |
各單元的波長范圍 | 約0.6nm |
膜厚測量范圍 | 2~250μm |
測量間隔 | 100msec~ |
裝置尺寸 | W600×D680×H1250mm |
測量例
250mm寬的薄膜案例