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          Detla 白光干涉測厚儀

          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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          廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國家高業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,擁有近20項國家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學(xué)設(shè)計、機械設(shè)計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長期實習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國內(nèi)高水平,未來面向市場。

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          貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學(xué)家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學(xué)家提供專業(yè)的服務(wù)。

           

          我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專業(yè),更貼心的服務(wù)。

          我們的優(yōu)勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

          材料分析領(lǐng)域代理品牌:

          OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

           

           

          接觸角測量儀、在線測厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

          產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝,紡織皮革

          白光干涉測厚儀介紹  

          白光干涉儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。


          白光干涉測厚儀特點

          快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價比高

          應(yīng)用案例

          應(yīng)用領(lǐng)域

          半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

          LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

          LED (SiO2、光刻膠ITO等)

          觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

          汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)


          技術(shù)參數(shù)

          型號

          TF200-VIS

          TF200-EXR

          TF200-DUV

          TF200-XNIR

          波長范圍

          380-1050nm

          380-1700nm

          190-1100nm

          900-1700nm

          厚度范圍

          50nm-40um

          50nm-300um

          1nm-30um

          10um-3mm

          準(zhǔn)確度1

          2nm

          2nm

          1nm

          10nm

          精度

          0.2nm

          0.2nm

          0.2nm

          3nm

          入射角

          90°

          90°

          90°

          90°

          樣品材料

          透明或半透明

          透明或半透明

          透明或半透明

          透明或半透明

          測量模式

          反射/透射

          反射/透射

          反射/透射

          反射/透射

          光斑尺寸2

          2mm

          2mm

          2mm

          2mm

          是否能在線

          掃描選擇

          XY可選

          XY可選

          XY可選

          XY可選

          注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

                2.可選微光斑附件。



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