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導電涂層四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、...

PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法...

合金粉堆積角測試儀怎么用，散粒物料堆積角的測定方法；適用于連續(xù)輸送設(shè)備輸送的粒度為 0~50mm的散粒物料的自然堆積角和動態(tài)堆積角的測定。

面粉休止角測定儀檢測方法，F(xiàn)T-104B2粉末和顆粒休止角測試儀一、定義：休止角是指粉體堆積層的自由斜面在靜止的平衡狀態(tài)下，與水平面所形成的Z大角二、工作原理：...

乳制品粉體性狀測試儀的售后，F(xiàn)T-102D粉體性狀測定儀來自ROOKO瑞柯公司，為粉體性狀測量提供很好的解決方案；解決粉體密度測量，物料流動性及影響粉體物料流動...

負極材料粉末壓實密度儀特點，壓實密度的計算公式：壓實密度=面密度/材料的厚度在鋰離子電池設(shè)計過程中，壓實密度=面密度/（極片碾壓后的厚度—集流體厚度） ，單位：...

多功能粉體和顆粒流動性測試儀價格，主要是基于粉體難流性問題，本儀器采用振動漏斗及配備多規(guī)格可轉(zhuǎn)換漏斗出口孔徑之測量方式，在不改變粉體本身特性和分子結(jié)構(gòu)狀態(tài)下，幫...

三環(huán)電極測量體積電阻率測試儀，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。...

高溫四探針測試儀檢測方法，采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導體材料的...

材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)廠家，由測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置的高溫測試探針治具，滿足絕緣材料在高溫狀態(tài)下，因溫度變化對電阻值變化之表面和體積電阻率...

四探針方阻電阻率測試儀的銷售，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、G...

高溫四探針電阻測試儀，該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，...

絕緣橡膠電阻率測試儀廠家，適用標準：GB/T 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；EN 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 部...

麥粉休止角測定儀使用方法，用休止角評價粉體的流動性能，只能表示流動性的好壞，或者用于比較同種粉體因水分和粒度等引起的流動性差別。

錳酸鋰壓實密度儀的參數(shù)，參照標準：GBT 24533-2019 鋰離子電池石墨類負極材料，附錄L:粉末壓實密度的測試方法，也可以用于具有類似特性之粉末和顆粒壓實...

涂布層四探針電阻率測試儀操作手冊，采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和...

SCI-2分子篩堆積密度測定儀樣品檢測，本儀器依據(jù)GB-T 6286-1986 分子篩堆積密度測定方法要求設(shè)計本標準適用于粒狀分子篩松裝密度和振實密度的測定。

氧化鋁松裝密度測定儀的技術(shù)指標，配置定位角之外，配置調(diào)節(jié)平衡之水平儀裝置，減少外部環(huán)境對測量結(jié)果的影響；量杯和漏斗有定位裝置，從而保證漏斗和量杯的中心在一條直線...

氧化物多功能粉末綜合測試儀檢測方法，概述FT-102D粉體性狀測定儀來自ROOKO瑞柯公司，為粉體性狀測量提供很好的解決方案；解決粉體密度測量，物料流動性及影響...

黑碳化硅段砂堆積密度儀使用方法，磨料堆積密度系粒狀磨料在自然堆積的情況下，在空氣中單位體積內(nèi)所含磨料的質(zhì)量，其單位為克/厘米3；與標準中之DMP-1型堆積密度測...