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電電化學作站 型號；HAD-CS1350
CS系列包括多種型號，可用于較大電和較槽壓的電化學測量和應用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電輸出范圍為±，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電控制范圍：±5.0A；電測量下限為10pA。
CorrTestTM 測試軟件是CS電化學作站的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/XP/Vista/Windows7操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持致，中文菜單和界面，方便用戶的教學和科研作。
CorrTestTM 測試軟件還具有別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人反掃，電化學再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。CorrtestTM 分析軟件則具有善的數(shù)據(jù)分析能，可對伏安曲線行數(shù)字平滑、積分、微分運算，能對化曲線行電化學參數(shù)解析，包括化電阻Rp，Tafel斜率ba，bc，腐蝕電密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
CS系列電化學作站采用USB2.0接口與計算機通訊，設備安裝簡單，即插即用。
外形尺寸：36.5cm（寬）*30.5cm（深）*16cm（） 儀器重量：6.5Kg
應用域
1） 研究電化學機理；物質的定性定量分析；
2） 常規(guī)電化學測試，包括電合成、電沉積（電鍍）性能評價；
3） 能和能源材料（電池、電容器、納米材料、生物傳感器等）的機理和制備研究；
4） 緩蝕劑、水質穩(wěn)定劑、涂層以及陰保護效率快速評價以及氫滲測試等；
5） 金屬材料在導電性介質（包括水/混凝土/土壤等環(huán)境）中的腐蝕電化學測試。
儀器配置
1） 儀器主機1臺 2） CorrTest測試與分析軟件1套
3） 用電解池（含鹽橋和排氣管）1套 4） 鉑金電、參比電、作電各1支
5） 模擬電解池1個 6） 電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
7） 電電纜線1根 8） 電架 （選配*）
9） 屏蔽箱 （選配*）
標與能方
硬件參數(shù)標
| 恒電位電位控制范圍：±10V | 恒電控制范圍：±5.0A |
| 電位控制度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV | 電控制度：0.1%×滿量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10mV（>100Hz）, 3mV（<10Hz） | 電靈敏度：<10pA |
| 電位上升時間：<1mS（<10mA）, | 電量程：2A～200nA, 共8檔 |
| 參比電輸入阻抗：1012 W||20pF | zui大輸出電：5.0A |
| 槽壓：±15V | 電掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV 和LSV掃描速度：0.01mV～10000V/s | 電位掃描時電位增量：0.1mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的zui小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit@1kHz， | 電與電位量程：自動設置 |
| DA分辨率：16bit，建立時間：1mS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 接口通訊模式：USB2.0 |
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電化學阻抗測量標
| 信號發(fā)生器 |
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| 頻率響應：10mHz～115KHz（CS1310/CS1350） | 交信號幅值：0mV～2500mV |
| 直偏壓：-10～+10V | DDS輸出阻抗：50W |
| 波形：正弦波，三角波，方波 | 正弦波失真：<1% |
| 掃描方式：對數(shù)/線性，增加/下降 | zui大負載電容：1nF；zui大負載電感：10mH |
| 信號分析器 |
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| 積分時間：zui大值：106個循環(huán)或者105S | 測量時間延遲：0～105秒 |
| zui小值：10mS 或者個循環(huán)的zui長時間 |
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| 直偏置補償 |
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| 電位自動補償范圍：-10V～+10V | 電補償范圍：-1A～+1A |
| 帶寬調整：自動或手動設置, 共8可調 |
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CS系列儀器不同型號能
| 能 方 法 | CS1120 | CS1150 | CS1300 | CS1310 | CS1350 | CS1360 | |
| 穩(wěn)
| 開路電位測量（OCP） | • | • | • | • | • | • |
| 恒電位化 | • | • | • | • | • | • | |
| 恒電化 |
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| 動電位掃描（DPP） | • | • | • | • | • | • | |
| 動電掃描（DGP） |
| • | • | • | • | • | |
| 暫
| 意恒電位方波 | • | • | • | • | • | • |
| 意恒電方波 |
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| 多電位階躍（VSTEP） | • | • | • | • | • | • | |
| 多電階躍（ISTEP） |
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| 快速電位脈沖 |
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| 快速電脈沖 |
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| 計 | 計時電位法（CP） |
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| 計時電法（CA） |
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| 計時電量法（CC） |
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| 伏 | 線性掃描伏安法（LSV） | • | • | • | • | • | • |
| 循環(huán)伏安法（CV） | • | • | • | • | • | • | |
| 階梯伏安法（SCV） |
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| 差分脈沖伏安法（DPV） |
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| 常規(guī)脈沖伏安法（NPV） |
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| 方波伏安法（SWV） |
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| 交伏安法（ACV） |
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| 常規(guī)差分脈沖伏安法（DNPV） |
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| 二次諧波交伏安 （SHACV） |
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| 溶 | 恒電位溶出伏安 |
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| 線性溶出伏安 |
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| 階梯溶出伏安 |
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| 方波溶出伏安 |
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| 交溶出伏安 |
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| 交 | 電化學阻抗（EIS）～頻率掃描 |
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| 電化學阻抗（EIS）～時間掃描 |
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| 電化學阻抗（EIS）～電位掃描 |
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| 腐 | 循環(huán)化曲線（CPP） | • | • | • | • | • | • |
| 線性化曲線（LPR） | • | • | • | • | • | • | |
| 電化學噪聲 （EN） | • | • | • | • | • | • | |
| 電偶腐蝕測量 （ZRA） | • | • | • | • | • | • | |
| 氫擴散測試（HDT） |
| • | • | • | • | • | |
| 電 | 電池充放電測試 |
| • | • | • | • | • |
| 恒電充放電 |
| • | • | • | • | • | |
| 恒電間歇充放電 |
| • | • | • | • | • | |
| 擴 | 盤環(huán)電測試 |
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| • | • | • | • |
| 數(shù)字記錄儀 | • | • | • | • | • | • | |
| 波形發(fā)生器 |
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| • | • | • | • | |
| 圓盤電機控制 |
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