標(biāo)準(zhǔn)軟件特性

動(dòng)態(tài)DAC/TCG：對(duì)比DAC曲線或?qū)Ρ雀鶕?jù)時(shí)變?cè)鲆娲_定的參考回波波幅，以百分比或以分貝水平計(jì)算信號(hào)波幅。DAC版本包含標(biāo)準(zhǔn)、ASME 3、JIS和自定義。此外還包括以下幾個(gè)主要特性：可動(dòng)態(tài)調(diào)整的DAC曲線、可切換的DAC和TCG視圖、自定義DAC警告曲線，以及20-80% DAC視圖。

DGS/AVG：這是一種利用與特定類型探頭和材料相關(guān)的DGS/AVG圖形，評(píng)估回波信號(hào)的缺陷定量技術(shù)。
DGS/AVG圖形表明回波高度、缺陷尺寸以及到探頭的距離這些參數(shù)之間的關(guān)系。

AWS D1.1和D1.5：為各種不同的AWS（美國焊接協(xié)會(huì)）焊縫檢測應(yīng)用提供一個(gè)動(dòng)態(tài)反射體缺陷指示定級(jí)功能。這個(gè)功能省去了手工計(jì)算的步驟，從而提高了檢測效率。

EPOCH 650動(dòng)態(tài)DAC/TCG特性

模板存儲(chǔ)：可在屏幕上將實(shí)時(shí)波形與所保存的參考波形對(duì)比。只需按一下按鈕，即可隨時(shí)切換保存模板的開啟或關(guān)閉狀態(tài)，以快速進(jìn)行波形比較。對(duì)于點(diǎn)焊分析及其他應(yīng)用，這個(gè)功能非常實(shí)用。

底面回波衰減器（BEA）：使用閘門2定義的屏幕區(qū)域使被測工件的底面回波得到衰減。

API 5UE：可按照API建議的程序5UE進(jìn)行缺陷定量。在OCTG管材的驗(yàn)證過程中，使用波幅距離差分技術(shù)（ADDT）測量
潛在缺陷的尺寸。

波形平均：這個(gè)功能可使實(shí)時(shí)A掃描代表采集到的A掃描平均值，平均除數(shù)為2、4、8、16、32。

EPOCH 650腐蝕模塊特性

數(shù)據(jù)記錄器

EPOCH 650型儀器有一個(gè)用于存儲(chǔ)校準(zhǔn)文件和檢測文件的機(jī)載數(shù)據(jù)記錄器。儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置有兩個(gè)主要文件類型：校準(zhǔn)（CAL）類型文件和增量（INC）類型文件。CAL文件可以保存幾乎無的參數(shù)設(shè)置。所保存的設(shè)置可被快速方便地調(diào)用到當(dāng)前設(shè)置。INC文件可在單一文件名下保存多組檢測數(shù)據(jù)，以便按檢測下載和報(bào)告這些數(shù)據(jù)。

EPOCH 650型儀器標(biāo)準(zhǔn)配置中的腐蝕類型數(shù)據(jù)記錄器文件類型功能齊全，增強(qiáng)了機(jī)載數(shù)據(jù)記錄器的性能。這個(gè)特性包含以下數(shù)據(jù)文件類型：序列型、帶自定義點(diǎn)的序列型、2-D柵格型、帶自定義點(diǎn)的2-D柵格型、3-D柵格型、鍋爐型、2-D EPRI型。

GageView Pro

EPOCH 650型儀器與我們的PC機(jī)接口程序GageView Pro兼容。通過這個(gè)程序，您可以下載檢測數(shù)據(jù)、在PC機(jī)上回顧測量數(shù)值、將測量和校準(zhǔn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出到常用的電子表格程序中、備份儀器的校準(zhǔn)和檢測數(shù)據(jù)，并進(jìn)行儀器固件升級(jí)和屏幕捕獲等基本操作。
 

microSD

EPOCH 650型儀器使用一個(gè)外置microSD存儲(chǔ)卡（含2 GB，最高可支持64 GB容量）作為機(jī)載和移動(dòng)存儲(chǔ)設(shè)備。通過可插拔存儲(chǔ)卡，您可以在不同儀器之間分享文件，并以各種不同格式輸出報(bào)告。第二個(gè)2 GB microSD卡安裝在儀器中的PC板上，用于所有機(jī)載數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)。在儀器被損壞無法修復(fù)時(shí)，可到授權(quán)的服務(wù)中心將儀器中的microSD卡取出，從損壞的儀器中拯救出關(guān)鍵性的數(shù)據(jù)。

EPOCH 650機(jī)載文件報(bào)告輸出（位圖格式）