FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237功能特點(diǎn):
◆配備了半導(dǎo)體探測器,由于有更好的信噪比,能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量
◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn),但因?yàn)槠湫盘柫枯^低,不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
◆底部C型開槽的大容量測量艙
◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
◆鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
◆來料檢驗(yàn),生產(chǎn)監(jiān)控
◆研究和開發(fā)
◆電子工業(yè)
◆接插件和觸點(diǎn)
◆黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
◆可以測量數(shù)納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
◆痕量元素分析
◆在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量
◆硬質(zhì)鍍層分析
相關(guān)產(chǎn)品
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