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硅片專(zhuān)用測(cè)溫儀-Impac IS 50-Si-LO plus
碳化硅在半導(dǎo)體領(lǐng)域(SiC)它是一種備受關(guān)注的材料，因其優(yōu)異的高溫和低溫工作性能而備受尊敬。碳化硅作為一種寬禁帶半導(dǎo)體，可以在高溫和低溫環(huán)境下保持良好的電氣性能，在許多領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。
溫度變化會(huì)影響碳化硅片的物理、化學(xué)和電學(xué)性能，高溫下其會(huì)熱膨脹、硬度及機(jī)械性能改變、化學(xué)反應(yīng)活性增強(qiáng)、原子擴(kuò)散加快、載流子遷移率變化，低溫時(shí)會(huì)收縮、變脆，在不同溫區(qū)還會(huì)因環(huán)境因素引發(fā)如吸附水汽、影響電學(xué)性能等各類(lèi)相關(guān)情況。
Impac IS 50-Si-LO plus測(cè)溫儀采用特殊波長(zhǎng)，適用于硅片的測(cè)量，測(cè)溫范圍400-1600 °C，該儀器配備了一根光纖以及一個(gè)可更換的光纖測(cè)頭，不受電磁干擾（如：感應(yīng)）的影響，耐溫可高達(dá)250 °C。
根據(jù)不同的測(cè)量距離，有兩個(gè)不同的測(cè)頭可供選擇，可實(shí)現(xiàn)小的光斑尺寸。激光靶光可以用來(lái)瞄準(zhǔn)測(cè)量物體。
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