大電流注入(BCI:Bulk Current Injection)—— 汽車電子EMC測試中經(jīng)常碰到的測試項,由于在車輛實際應(yīng)用場景中,不同車載零部件的連接線纜一般會捆扎在一起,這樣就會導(dǎo)致不同線纜之間會有不同頻段的電磁干擾信號進行相互耦合,受到干擾的零部件會發(fā)生失效,進而對車輛的行駛安全會產(chǎn)生一定風(fēng)險。所以該項測試的目的在于模擬RF信號被注入到被測產(chǎn)品電源線或信號線上時,驗證產(chǎn)品功能是否下降或其性能指標(biāo)是否在容差限值以內(nèi)。
測試標(biāo)準(zhǔn)從ISO 11452-4:2005版本到ISO 11452-4:2011版本再到現(xiàn)在最新的ISO 11452-4:2020版本。根據(jù)最新ISO 11452-4:2020版本要求,測試頻率范圍為0.1MHz ~ 400MHz。
BCI測試?yán)碚撝R
工作原理是利用電流注入探頭這個互感器將干擾信號感應(yīng)至線束。系統(tǒng)框圖如下圖所示。
在這個試驗過程中,電流注入鉗相當(dāng)于第一電流變換器,線束作為第二電流變換器,因此,射頻干擾信號通過電流注入探頭耦合后,轉(zhuǎn)換為射頻電流,在線束中以共模方式流過(即電流在EUT的所有線束中以相同的方向流動),通過參考地回流進入EUT的連接端口,也稱CBCI,一般應(yīng)用在高頻測試(30MHz~400MHz)。
或者以差模方式流過,通過被測線束以外的其它線束回流進入EUT連接端口,也稱DBCI,一般應(yīng)用在低頻測試(0.1MHz~30MHz)。電流監(jiān)測鉗作為線纜電流的測量裝置,實時監(jiān)測線束實際感應(yīng)電流值。
測試方法BCI測試分為開環(huán)法(也俗稱替代法)和閉環(huán)法
開環(huán)法是在試驗之前以前向功率作為試驗的基準(zhǔn)參數(shù)進行系統(tǒng)校準(zhǔn),產(chǎn)生所要測試的電流等級,記錄好功放輸出的前向功率。測試過程中按校準(zhǔn)確定的基準(zhǔn)參數(shù)對DUT施加干擾信號進行試驗。校準(zhǔn)和試驗過程中前向功率、試驗電流等級都應(yīng)被記錄下來。
閉環(huán)法是指將預(yù)先校準(zhǔn)好的RF干擾信號經(jīng)射頻功率放大器放大后,通過電流注入探頭注入至線束中,同時通過電流測量探頭測量線束中的實時電流值,比較實時電流值與目標(biāo)值,決定是升高或降低信號電平輸出來達到預(yù)先設(shè)置的目標(biāo)值。
可以概括為如下3點:
1)特定試驗電平(電流)應(yīng)在實測前標(biāo)定,增加功放功率,若電流值滿足測試等級要求,則開始注入進行測試。
2)若功率計檢測到前向功率值 Pf = k*Pcal (k=4), 則停止增加功率,開始注入測試。
3)測試電流值或者4倍校準(zhǔn)功率值,滿足其中一項都認(rèn)為符合要求,以最先達到為準(zhǔn)。
目前,各大OEM車廠以及標(biāo)準(zhǔn)制定組織在制定BCI產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)時,都將ISO 11452-4作為測試方法,但出于自身不同的考慮,一般只會選擇開環(huán)法和閉環(huán)法中的一種。對于ISO 11452-4,開環(huán)法與閉環(huán)法主要存在以下差異:
1) 開環(huán)法的試驗線束長度為1700mm,閉環(huán)法的試驗線束長度為1000mm;
2) 開環(huán)法的電流注入位置為150mm, 450mm和750mm,而閉環(huán)法的電流注入位置為900mm;
3)閉環(huán)法必須使用電流監(jiān)測鉗,監(jiān)測鉗位于50mm處,而開環(huán)法測試中電流監(jiān)測鉗只是作為一種選擇,一般不使用監(jiān)測鉗;
4)開環(huán)法是一種基于給定注入前向功率的開環(huán)測試,而閉環(huán)法則是通過電流監(jiān)測鉗實時監(jiān)測的閉環(huán)測試。
測試環(huán)境:BCI測試的環(huán)境以及布置如下——
試驗溫度:(23±5)℃
試驗濕度:20% ~ 80% RH
試驗電壓:12V系統(tǒng)為(13.5±0.5)V;24V系統(tǒng)為(27±1)V
對于汽車電子系統(tǒng)測試來說,典型的信號頻率范圍如下:
BCI測試頻率范圍:1MHz~400MHz 或者 0.1MHz~400MHz 試驗需在屏蔽室中進行。
布置要點——
• DUT應(yīng)布置在絕緣、厚度為(50±5)mm、低相對介電常數(shù)(ε< 1.4)的材料上。
• DUT表面應(yīng)與接地平面邊緣距離≥100mm。
• DUT和屏蔽殼體的任何金屬部分之間距離應(yīng)≥500mm,接地平面除外。
• 除非在測試計劃中另有說明,試驗應(yīng)采用開環(huán)法,DUT和模擬負(fù)載之間的線束長度應(yīng)為(1700 -0/+30)mm,從DUT側(cè)起線束與實驗桌前言平行部分應(yīng)至少1500mm。
• 測試線束(或分支)應(yīng)布置在絕緣、厚度為(50±5)mm、低相對介電常數(shù)(ε< 1.4)的材料上。
• 除非DUT外殼在實車中與金屬車架搭接,否則DUT外殼不得與接地平面接地。
• 負(fù)載模擬器最好直接放置在接地平面上,如果負(fù)載模擬器使用的式金屬外殼,則該外殼應(yīng)連接到接地平面上,接地電阻應(yīng)<2.5mΩ。
• 在測試過程中,若使用電流監(jiān)測探頭進行監(jiān)視,應(yīng)布置在距離DUT連接器(50±10)mm位置處。
• LISN:對于遠端接地應(yīng)用兩個LISN,對于近端接地可以只用一個LISN(接于正極)DUT負(fù)極則直接連接在接地平面。
除非有其他規(guī)定,連接 DUT 與負(fù)載模擬器的線束長度為:1700(+300/-0) mm,電流注入探頭與 DUT 的距離為:
d = (150 ± 10) mm
d = (450 ± 10) mm
d = (750 ± 10) mm
可以選擇不加電流監(jiān)測探頭。
除非有其他規(guī)定,連接 DUT 與負(fù)載模擬器的線束長度為:1000(+200/-0) mm,電流注入探頭與DUT的距離為(900±10)mm,閉環(huán)法必須要放置電流監(jiān)控探頭且到被測設(shè)備連接器的距離為(50±10)mm。
BCI測試功能狀態(tài)分類——
受功能狀態(tài)定義了 EUT 在試驗環(huán)境下功能特性的期望目標(biāo),適于 EUT 的每一個獨立功能, 描述了試驗中和試驗后預(yù)期功能的工作狀態(tài)。一般有如下五個功能狀態(tài):
狀態(tài) A:施加干擾過程中及過程后,功能應(yīng)滿足設(shè)計要求;
狀態(tài) B:施加干擾過程中功能應(yīng)滿足設(shè)計要求,但允許超過限值或公差要求,移除干擾后,功能自動恢復(fù)到正常狀態(tài),存儲記憶功能應(yīng)滿足功能等級A的要求;
狀態(tài) C:施加干擾過程中,允許功能偏離設(shè)計要求,移除干擾后,功能自動恢復(fù)到正常狀態(tài),存儲記憶功能應(yīng)滿足功能等級A的要求;
狀態(tài) D:施加干擾過程中,允許功能偏離設(shè)計要求,移除干擾后,可以進行簡單操作使功能恢復(fù) 到正常狀態(tài),不允許對記憶功能造成長久的影響;簡單操作定義:操作設(shè)備電源鍵(如音響電源開關(guān));
狀態(tài) E:施加干擾過程中,功能偏離設(shè)計要求,移除干擾后,需要替換器件或維修方能恢復(fù)正常狀態(tài)。
調(diào)制方式
根據(jù)ISO 11452-1標(biāo)準(zhǔn)的定義,調(diào)制信號的類型和頻率由DUT的特性決定,如無其它規(guī)定,應(yīng)參照下列要求:
——未調(diào)制正弦波(CW)
——調(diào)制頻率為1kHz,調(diào)制深度為0.8的調(diào)幅正弦波 (AM)
——脈沖寬度為577us,周期為4600us的脈沖調(diào)制正弦波(PM)
實際實驗時不能使用放大器的通斷所形成的脈沖或100% AM調(diào)制波(調(diào)制深度m=1)來代替PM調(diào)制波。
調(diào)制信號的使用頻率范圍如下:
——CW: 0.01MHz ~ 18GHz
——AM: 0.01MHz ~ 800MHz
——PM: 800MHz ~ 18GHz
其中BCI測試的調(diào)制方式為CW和AM
BCI測試頻率步長如下,每個頻點的駐留時間一般為2s:
BCI嚴(yán)酷等級:
BCI測試系統(tǒng) —— 來者何人?
大電流注入(BCI)測試系統(tǒng),以CDG7000-75傳導(dǎo)抗擾測試系統(tǒng)為核心,配合低插入損耗的電流注入探頭CDN BCI-P1,利用HELIA 7 – BCI全自動測試軟件,實現(xiàn)相應(yīng)的ISO 11452-4,TL 81000, BYD等絕大多數(shù)車企BCI測試。
系統(tǒng)特點:
• 集成了4kHz~1.2GHz信號源、功放、功率計、功率探頭等關(guān)鍵設(shè)備;
• 全套配置都是自有品牌, 集成度高,緊湊小巧,方便攜帶進行外場測試;
• 覆蓋ISO 11452-4標(biāo)準(zhǔn)、大眾企標(biāo)TL 81000中5.2.2章節(jié)BCI測試能力、BYD企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)BCI測試能力;
• 0.1MHz~400MHz滿足200mA開環(huán)法;
• 1MHz~400MHz滿足200mA閉環(huán)法。
BCI測試系統(tǒng)配置:
施羅德授權(quán)代理商:蘇州威銳科電子有限公司
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