如果您曾想過是否有比簡單滾動B掃描更有效的方法來進(jìn)行焊縫篩選,不妨來了解一下我們的解決方案。隨著MXU軟件的更新,我們?yōu)镺mniScan X3系列推出了創(chuàng)新的B掃描視圖,有可能改變這種耗費(fèi)時間和注意力的技術(shù)。作為一種驗(yàn)證工具,它可以讓您對評估更有信心,并幫助優(yōu)化整個B掃描篩選過程。
我們稱其為合并B掃描,原因如下:
該軟件采用您習(xí)慣的橫斷面B掃描切片,并有效地將它們疊加在一起。
然后,所有的B掃描在OmniScan X3顯示器上顯示為一個易于解釋的視圖。
合并B掃描的工作原理?
想象一下,S掃描是一個帶有透明褶皺或鰭片的折扇。合并B掃描就像合上扇子,透過所有的鰭片進(jìn)行觀察。
在標(biāo)準(zhǔn)的PAUT扇形掃描中,每個超聲軸位置(不考慮指示深度)的數(shù)據(jù)將會合并。其中的數(shù)據(jù)來源于扇形掃描中每個聲束的最大波幅和每個掃描位置(橫切片),因此潛在的指示將合并,與每個聲束的傳播軸垂直。合并B掃描是一個未校正的視圖,不涉及任何壓縮,所以沒有數(shù)據(jù)丟失。
也就是說,在選擇使用合并B掃描時,還需要考慮其他因素。當(dāng)焊縫中指示的聲道分布不固定時,它有出色的檢測性能,這一般是自然發(fā)生的。但并不是所有的焊縫和PAUT配置都是一樣的,在某些情況下,特別是在扇形掃描覆蓋了大部分焊縫的情況下,可能會有焊縫的幾何指示出現(xiàn)在相似的聲程上。如果不進(jìn)行調(diào)整,這些條件就不是使用合并B掃描的優(yōu)化條件,但好消息是,仔細(xì)選擇用于合并的第一和最后一個聲束,可以改進(jìn)圖像,這對缺陷篩選仍有顯著效果。
相控陣超聲測試(PAUT)B掃描基礎(chǔ)知識
即使是那些熟悉B掃描的人,有時也會錯誤地將其描述為“側(cè)視圖”。只有在談?wù)?度檢測時,這才是準(zhǔn)確的說法(如用于壁厚測量)。當(dāng)涉及到角度聲束檢測時,這并不真正適用,例如焊接檢測中是角度聲束檢測。這是因?yàn)樵诮嵌嚷暿刃螔呙柚?,單個B掃描實(shí)際上顯示了不同的聲束,每個聲束相對于表面(或垂直于表面的深度軸)以不同角度傳播。
B掃描篩選技術(shù)通常由相控陣(PA)檢測人員教授并用于焊接檢測應(yīng)用。在進(jìn)行扇形掃描時,依次滾動瀏覽B掃描,就像滾動瀏覽S掃描的每個傾斜聲束實(shí)時產(chǎn)生的平面圖像。焊縫檢測人員在評估壓痕深度和確定哪些壓痕最深時,通常會應(yīng)用B掃描數(shù)據(jù)視圖。
然而,使用這種技術(shù)識別和評估缺陷通常需要集中精力,以便:
識別幫助您從幾何回波中區(qū)分出可疑缺陷的模式。
在不同的B掃描中,比較可疑缺陷的嚴(yán)重程度和深度。
合并B掃描有助于減輕所涉及的一些工作,并通過其提供的強(qiáng)大功能簡化您的焊接檢測和分析過程。作為對標(biāo)準(zhǔn)B掃描篩選技術(shù)的補(bǔ)充,合并B掃描可以使您對評估充滿信心。
以下是它所提供的五大優(yōu)勢的總結(jié):
1. 進(jìn)行更容易和更快的篩選
合并B掃描可以為檢測人員節(jié)省大量的時間和精力。由于在焊縫中檢測到的所有信號指示都可以顯示在一個數(shù)據(jù)視圖中,所以很容易一目了然地發(fā)現(xiàn)可疑的缺陷,并確認(rèn)您沒有誤解或錯過任何東西。
由于所有的數(shù)據(jù)都呈現(xiàn)在一個視圖中,所以您可以清楚地從幾何回波和相關(guān)的漂移中區(qū)分出可疑的信號指示。
此外,通過全新改進(jìn)布局,查看合并和未合并的B掃描數(shù)據(jù)更加方便:
B-S-A單組布局顯示更大的B掃描視圖
新的A-B-S多組布局顯示多個B掃描,無需切換。組可以單獨(dú)合并或取消合并,以方便比較和解釋。
A-B-S多組布局顯示多個B掃描(合并或不合并),無需在顯示圖像之間切換。此外,每組可以單獨(dú)合并或取消合并,以方便比較和解釋數(shù)據(jù)。
2.隔離相關(guān)角度以獲得更清晰的圖像
您可以通過仔細(xì)選擇對分析有幫助的聲束,使合并B掃描圖像更加清晰。調(diào)整數(shù)據(jù)源參數(shù)中的第一個和最后一個聲束可以使可疑的指示從不相關(guān)的回波中更清楚地顯示出來。
3.驗(yàn)證缺陷篩選評估的準(zhǔn)確性
OmniScan X3的快速訪問菜單使您能夠在標(biāo)準(zhǔn)B掃描視圖和合并B掃描之間來回切換。只需在B掃描數(shù)據(jù)顯示中按住即可打開菜單,然后選擇使用主動聲束和激活合并B型掃描功能。
您可以在實(shí)時采集和采集后分析中使用它。試用后,效果立現(xiàn)。您可將其作為比較B掃描數(shù)據(jù)的一種方式,并滿懷信心地驗(yàn)證您的分析。
4.毫不猶豫地確認(rèn)缺陷的深度
由于合并B掃描顯示了所有的聲束,包括顯示材料最深處的信號指示,所以您可以用它來幫助確認(rèn)最深缺陷的位置。您會注意到,對于始于遠(yuǎn)端表面的裂紋的檢測有了特別的改善。
通過定位合并B掃描的掃描光標(biāo),可以更容易地找到這種缺陷的最深部分。然后,您可以像往常一樣,使用S掃描來完成特征分析。
5.分析和評估過去和現(xiàn)在的所有數(shù)據(jù)
合并的B掃描從飛行時間的角度“觀察”回波,不太受聲束擴(kuò)散的影響。這使得在合并B掃描中很容易確定缺陷的最深部分,并將掃描光標(biāo)置于其上。
如前所述,合并B掃描視圖可以在OmniScan X3裝置上使用,在數(shù)據(jù)采集期間和采集后,可以在裝置上或在電腦上使用OmniPC軟件。由于OmniPC軟件與所有過去和現(xiàn)在的OmniScan數(shù)據(jù)文件格式(包括.opd和.oud)兼容,當(dāng)您更新到OmniPC 5.13時,就可以將合并B掃描應(yīng)用到以前采集的數(shù)據(jù)上。這包括使用OmniScan MX2和SX探傷儀獲取的數(shù)據(jù)文件。
額外好處:緩解B掃描篩選技術(shù)的學(xué)習(xí)曲線
如果您有使用和解讀B掃描的經(jīng)驗(yàn),那么您在適應(yīng)合并B掃描時就不會有任何問題。由于合并B掃描顯示了所有的聲束,包括產(chǎn)生最深層信號指示的聲束,所以初學(xué)者學(xué)習(xí)B掃描篩選技術(shù)也會容易得多。
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