半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試所需要用到的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

來(lái)源：上海巨為儀器設(shè)備有限公司 2022年07月23日 10:13

半導(dǎo)體器件可靠性測(cè)試所需要用到的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備（JW-2008D）

半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)分類

1、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)

應(yīng)用于計(jì)算機(jī)、服務(wù)器、手機(jī)、有線通信、消費(fèi)電子、汽車電子等諸多領(lǐng)域的核心部位?？煞譃槟M電路、微處理器、邏輯電路和存儲(chǔ)器四大類。

2、分立器件

主要包括晶體二極管、三極管、整流二極管、功率二極管、化合物二極管等。分立器件被廣泛應(yīng)用在家電、綠色照明、計(jì)算機(jī)、汽車電子、網(wǎng)絡(luò)通訊、工業(yè)控制等產(chǎn)品。

3、光電器件

主要是利用光、電轉(zhuǎn)換效應(yīng)所制成的各種功能器件，可分為光器件、受光器件、光復(fù)合器件等，包括LED、OLEO、光伏太陽(yáng)能等。

4、傳感器

可分為物理傳感器、化學(xué)傳感器、生物傳感器等。主要應(yīng)用于工業(yè)自動(dòng)化、工業(yè)機(jī)器人、生物工程等領(lǐng)域。

可靠性試驗(yàn)等級(jí)分類

Region (I) 被稱為早夭期（Infancy period）

這個(gè)階段產(chǎn)品的 failure rate 快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的缺陷；

Region (II) 被稱為使用期（Useful life period）

在這個(gè)階段產(chǎn)品的failure rate保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等；

Region (III) 被稱為磨耗期（Wear-Out period）

在這個(gè)階段failure rate 會(huì)快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長(zhǎng)期使用所造成的老化等。

相關(guān)產(chǎn)品

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