在使用掃描電鏡的過程中，您是否總是遭遇如下問題：

1. 在不同設(shè)備間切換樣品時總需耗費(fèi)大量時間重新定位感興趣區(qū)域

2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱，需要頻繁切換成像參數(shù)，調(diào)整像散聚焦

3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁

針對以上的困擾和需求，蔡司對掃描電鏡進(jìn)行全新武裝，特別推出智能電鏡解決方案，解決以上提到的所有問題，確保您日常檢測和分析工作的順暢與高效。

關(guān)聯(lián)定位分析

蔡司Connect模塊輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接，快速實(shí)現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位，還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息

? 關(guān)聯(lián)定位：通過關(guān)聯(lián)樣品臺實(shí)現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動關(guān)聯(lián)重定位，大幅縮減操作用時

? 數(shù)據(jù)疊加：自由疊加來自手機(jī)，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息

? 統(tǒng)一管理：管理來自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)，輸出不同信息疊加圖像和視頻

PCB電路板的關(guān)聯(lián)顯微分析（光鏡，電鏡，能譜信息），左：宏觀圖像；右：感興趣位置局部放大

自動成像

蔡司SmartSEM Touch定制軟件，全面兼顧參數(shù)設(shè)置，成像，自動化拼圖，圖像瀏覽，實(shí)現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像

? 向?qū)讲僮髁鞒?，界面簡潔，操作簡?/p>

? 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù)，實(shí)現(xiàn)自動聚焦

? 簡單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接

簡潔的SmartSEM Touch操作界面

量化分析

蔡司ZEN模塊實(shí)現(xiàn)從電鏡圖像獲取，圖像處理，圖像分割，自動測量到報告生成的整個量化分析流程

? 一鍵獲取掃描電鏡圖像，向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒?，毫無經(jīng)驗(yàn)的新手也可輕松掌握

? 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達(dá)成的圖像處理需求

? 豐富的測量功能，如顆粒統(tǒng)計(jì)分析，孔隙率，含量百分比，層厚測量，晶粒度評級等

量化分析界面-二值化分割

金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析

滿足多種測量需求——高級測量

含量百分比

晶粒度評級

顆粒分析

孔隙率分析

蔡司智能掃描電鏡解決方案滿足您的多種需求，您可關(guān)注蔡司顯微鏡微信公眾號（ZEISSMIK）了解蔡司智能掃描電鏡在生命科學(xué)、材料科學(xué)、金屬行業(yè)及電子行業(yè)四大領(lǐng)域解決方案。