GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗，用于這種試驗方法的設(shè)備我們通常稱之為‘恒溫恒濕試驗箱“，此標準適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時的適應(yīng)性，規(guī)定了試驗的嚴酷等級，如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等，適用于散熱和非散熱樣品，適用于小型設(shè)備及元件，同時也適用于與試驗箱外的測試裝置有復(fù)雜聯(lián)接的大型設(shè)備，這種連接需要一定的裝配時間，在安裝期間，可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗條件。
    我們上述所描述的高溫高濕試驗，根據(jù)林頻儀器多年生產(chǎn)銷售的經(jīng)驗來說，高溫高濕試驗的溫濕度范圍為雙85試驗、雙95試驗（即指溫度和濕度都是85、85%和95、95%），這種設(shè)備在定貨時需特殊說明一下，需要開具壓力平衡孔及其它部分的調(diào)整。
    接下來回來的恒溫恒濕試驗箱的標準簡述上，標準中文件的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款，凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本，GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部：總則，GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫試驗。
    在本試驗中，將樣品置于同為試驗室溫試驗的試驗箱內(nèi)，試驗箱內(nèi)的條件應(yīng)符合標準第5章所規(guī)定的嚴酷等級并持續(xù)至規(guī)定時間，由于散熱樣品的影響，可能引起試驗箱內(nèi)的溫度和濕度條件與規(guī)定的試驗條件不同，則這兩個參數(shù)的測量應(yīng)按自由空氣條件的測量方法進行測量。