FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀特點(diǎn)：

X射線熒光測試儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度(包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等)和進(jìn)行材料分析

XULM鍍層厚度測量儀的特點(diǎn)

• 用途廣泛的鍍層厚度測量儀，包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等。
• 通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進(jìn)行同樣效果的測量.
• 配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點(diǎn)。
• 比例計(jì)數(shù)器可實(shí)現(xiàn)數(shù)千cps（每秒計(jì)數(shù)率）的高計(jì)數(shù)率。
• 從下*的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
• 底部C型開槽的大容量測量艙  。

菲希爾FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測量線路板工業(yè)中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
• 電子行業(yè)中接插件和觸點(diǎn)上的鍍層
• 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
• 電鍍鍍層，如大規(guī)模生產(chǎn)零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護(hù)層Zn/Fe，ZnNi/Fe
• 珠寶和鐘表工業(yè)。
• 測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚。

        對于FISCHERSCOPE?X-RAYXUL和XULM系列來 說，X射線源和接收器位于測量室的下方，這樣 可以快速方便地定位樣品。除此以外，視頻窗口 也可以輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操 作，特別是在日常生產(chǎn)中測量大量部件時(shí)特別有 用。 盡管結(jié)構(gòu)緊湊，但這些儀器都有大容量的測量 室，這樣大的物品也可以測量。殼體的開槽設(shè)計(jì) （C型槽）可以測量諸如印刷線路板類大而平整 的樣品，即使這些樣品可能無法*放入測量 室。
        樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度 更高的手動XY工作臺上。 XUL和XULM都配備了比例接收器；但是它們配 備的X射線管，濾片和準(zhǔn)直器是不同的。便宜耐 用的XUL配備了一個(gè)準(zhǔn)直器和一個(gè)固定的濾片。 內(nèi)置的標(biāo)準(zhǔn)X-RAY管產(chǎn)生的基本射線光束較大； 因此***小可用的準(zhǔn)直器為0.3 mm?；诠饩€的 擴(kuò)散，***小的測量點(diǎn)在0.7 mm – 1mm左右。
        XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管， 測量點(diǎn)***小可達(dá)約100μｍ，同時(shí)比例接收器仍 然可以保持相對高的計(jì)數(shù)率。即使很短的測量時(shí) 間也可以達(dá)到很好的重復(fù)精度。此外，XULM配 備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地 為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造非常好的激勵(lì)條件。

        應(yīng)用實(shí)例：

        菲希爾FISCHERSCOPE XULM X射線熒光測試儀特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn) 或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu 鍍層厚度。即使80nm的超薄的金鍍層也可以用 測量點(diǎn)為?0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù) 精度可達(dá)2.5nm。
        特征
        帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口 和鎢靶的微聚焦X射線管。
        工作條件:50KV,50W X射線探測器采用比例接收器
        準(zhǔn)直器：固定或4個(gè)自動切換，0.05 x 0.05 mm 到 ? 0.3 mm 基本濾片：固定或3個(gè)自動切換 測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量 位置?？潭染€經(jīng)過校準(zhǔn)，顯示實(shí)際測量點(diǎn) 大小。 設(shè)計(jì)獲得許可，防護(hù)全面，符合德國X射 線條例第4章第3節(jié)

        典型應(yīng)用領(lǐng)域
        線路板行業(yè)Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB 等鍍層的測量 電子行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的鍍層測量 electronics industry 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS 批量生產(chǎn)部件（螺絲和螺母）防腐鍍層測 量，如Zn/Fe、ZnNi/Fe 珠寶和手表行業(yè) 測定電鍍槽中的金屬含量

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測物時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行轉(zhuǎn)換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對板材厚度進(jìn)行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。