目錄:牛津儀器(上海)有限公司>>Ultim>> Ultim® Extreme
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更新時(shí)間：2022-11-30 13:14:59瀏覽次數(shù)：254評(píng)價(jià)
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Ultim Extreme 硅漂移探測(cè)器是高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡應(yīng)用的一個(gè)突破，可提供遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)微米和納米分析的解決方案。
Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無(wú)窗能譜，晶體面積100mm2，經(jīng)優(yōu)化設(shè)計(jì)來(lái)盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，優(yōu)化高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時(shí)的成像和EDS性能，使用Ultim Extreme，EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。
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