目錄:聚光科技(杭州)股份有限公司>>通用科學(xué)儀器>>光譜>> ARTUS 10 全譜直讀光譜儀(AES)
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更新時(shí)間:2024-05-27 20:49:35瀏覽次數(shù):198評(píng)價(jià)
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檢測(cè)器類 | 其他 | 儀器種類 | 臺(tái)式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
ARTUS 10 是阿朗品牌創(chuàng)始人60年光譜儀從業(yè)經(jīng)驗(yàn)及英國(guó)阿朗(譜育子公司)30多年技術(shù)積累的結(jié)晶,使用高精度定制A-CMOS作為檢測(cè)器(可制冷)的旗艦型直讀光譜儀。CMOS傳感器與制冷技術(shù)的結(jié)合,標(biāo)志著ARTUS10產(chǎn)品對(duì)高分析性能的無限追求,可輕松達(dá)到1ppm的檢測(cè)下限,不用漂移校正,重新定義了直讀光譜儀的穩(wěn)定性。阿朗致力于滿足用戶精益求精的金屬材料分析需求,從毫厘之間為用戶創(chuàng)造效益。
ARTUS 10 全譜直讀光譜儀(AES)產(chǎn)品特點(diǎn)
科研級(jí)CMOS帶來分析性能飛越
開創(chuàng)性采用全新科研級(jí)CMOS傳感器,帶來更好的靈敏度
利用CMOS傳感器快速讀取的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)對(duì)每個(gè)元素獨(dú)立的參數(shù)優(yōu)化與采集分析,將該項(xiàng)新技術(shù)命名為 OEO(Optimal Element-Oriented)
檢測(cè)下限可達(dá)到1ppm,甚至更低
A-CMOS傳感器對(duì)紫外波段元素 (C、P、S、N) 靈敏度更高
終身不需漂移校正,重新定義穩(wěn)定性
壓鑄鋁合金整體光室,4級(jí)消除應(yīng)力處理
光室恒溫設(shè)計(jì),保證光譜位置長(zhǎng)期穩(wěn)定,不漂移
氣流路的精確設(shè)計(jì),一切為了結(jié)果更穩(wěn)定
RTMC光譜優(yōu)化技術(shù)
“抱緊式"電極卡緊設(shè)計(jì),避免電極移動(dòng),對(duì)數(shù)據(jù)穩(wěn)定性有更大幫助
高能預(yù)熱脈沖合成全數(shù)字光源
雙光室設(shè)計(jì),分辨率有保障
雙光室光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì),光譜范圍寬、分辨率高
紫外波段元素(N,P,S,C)獨(dú)立光室分析,效果好
無真空泵運(yùn)動(dòng)部件,光室無形變及油污風(fēng)險(xiǎn)
ARTUS 10 全譜直讀光譜儀(AES)高易用性,更佳體驗(yàn)
可在10s內(nèi)完成一次分析,節(jié)約氬氣2/3,節(jié)約生產(chǎn)過程成本
強(qiáng)大的ASR (Aberrant Spark Removed ) 技術(shù),移除異常激發(fā)火花,降低樣品制備要求,有裂紋也不影響分析
軟件主界面簡(jiǎn)潔清晰,圖形化顯示,提升工作效率
A-Care遠(yuǎn)程云服務(wù)功能,可遠(yuǎn)程升級(jí)固件程序,遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài),對(duì)儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
設(shè)備狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控,直觀了解每個(gè)模塊的運(yùn)行狀況
技術(shù)參數(shù)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)