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          Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

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          • Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀

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          • 型號(hào)
          • 品牌 BIC/布魯克海文
          • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
          • 所在地 北京市

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          更新時(shí)間:2024-09-02 10:09:33瀏覽次數(shù):12136

          聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

          產(chǎn)品創(chuàng)新點(diǎn)

          作為Z先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測量濃度上限,Z高可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能Z強(qiáng)大的粒度分析與Zeta電位儀。

          產(chǎn)品簡介

          產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
          應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,能源    
          Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀*結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù),擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度,突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術(shù)*解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是目前市場上功能Z

          詳細(xì)介紹

                 作為zui先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了*結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALS(相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測量濃度上限,zui高可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,*解決了長期以來無法對諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低10-1000倍,傳統(tǒng)方法沒有足夠的分辨率進(jìn)行測量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場上功能zui強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。


          NanoBrook產(chǎn)品系列

          項(xiàng)目

          90Plus

          173

          173Plus

          ZetaPlus

          ZetaPALS

          Omni

          粒度測量

          分子量測量

          Zeta電位測量

          技  術(shù)  參  數(shù)

          粒度范圍

          0.3nm-15μm

          0.3nm-15μm

          0.3nm-15μm

          0.3nm-15μm

          分子量范圍

          342~2×107Dalton

          342~2×107Dalton

          342~2×107Dalton

          342~2×107Dalton

          散射角

          15°、90°

          173°

          15°、90°、173°

          15°、90°、173°

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          電導(dǎo)率范圍

          0-20S/m

          0-30S/m

          電泳遷移率

          范圍

          10-10-10-7m2/V.s

          10-11-10-7m2/V.s

          適用粒度范圍

          1nm~100μm

          電極

          *型電極

          系 統(tǒng) 參 數(shù)

          溫度控制

          -5~110℃,±0.1℃,(溫控范圍可根據(jù)客戶要求定制)

          激光源


          40mW泵半導(dǎo)體激光器(激光器波長和功率可定制)


          檢測器

          APD或PMT

          分析軟件

          Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

          微流變

          檢測弱結(jié)構(gòu)溶液的粘彈性信息

          膜電位

          固體表面膜電位測量

          在線測量

          粒度及Zeta電位在線測量

          自動(dòng)滴定儀

          可對PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

          介電常數(shù)儀

          直接測量溶劑的介電常數(shù)值

          粘度計(jì)

          用于測量溶劑及溶液的粘度

          ●代表“有"  ○代表“無"


          Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀典型應(yīng)用  

          1.蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

          2.脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

          3.多糖、藥物制備

          4.納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

          5.油包水、水包油體系

          6.涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

          7.食品、化妝品配方

          8.陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑


          Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀應(yīng)用案例


          不同粒徑對Zeta電位等電點(diǎn)的影響       不同官能團(tuán)配比對等電點(diǎn)的影響        Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

                 通過調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在4~7之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS)

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