目錄:賽默飛色譜及質(zhì)譜>>痕量元素分析產(chǎn)品>> ELEMENT2/XR賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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儀器種類 | 磁質(zhì)譜 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,農(nóng)業(yè) |
賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ELEMENT2/XR可以同時分析周期表中的幾乎所有元素,濃度范圍從mg/L到pg/L ;兼容無機和有機溶液的基體和固體樣品。利用高分辨率直接分析有干擾的同位素;的確信不含干擾的元素圖譜;瞬時信號的多元素檢出器;并能與多種進樣和分離技術(shù)聯(lián)用,例如激光進樣。目前,已經(jīng)安裝使用的ELEMENT XR已超過600臺,服務(wù)于環(huán)境監(jiān)測、核科學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)等各個領(lǐng)域。
賽默飛電感耦合等離子體質(zhì)譜儀ELEMENT2/XR是獲得認(rèn)可的痕量元素分析和定量的高效技術(shù)。 其應(yīng)用范圍從半導(dǎo)體工業(yè)到地質(zhì)和環(huán)保分析、從生物研究到材料科學(xué)。 ICP-MS嚴(yán)重的限制是元素信號的多原子干擾,這種干擾主要來自氬或樣品基質(zhì)。 高質(zhì)量分辨率是識別和消除干擾的標(biāo)準(zhǔn)。 即使沒有樣品制備步驟,消除干涉也能準(zhǔn)確可靠地進行痕量級多元素定量分析。
ELEMENT XR主要特點:
ELEMENT 2主要特點:
2、全自動的常規(guī)分析
3、具有靈活性和易用性的先進研究工具
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