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膜硅厚度KAKUHUNTER寫真化學(xué) 紅外透射膜厚監(jiān)測儀
| 參考價: | ￥ 8750 |
| 訂貨量: | 1件 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 膜硅厚度 產(chǎn)品型號
- KAKUHUNTER/寫真化學(xué) 品牌
- 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
- 深圳市 所在地
訪問次數(shù)：20更新時間：2024-12-13 17:51:55
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 5千-1萬 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 食品,化工,電子,電氣,綜合 | 訂貨號 | 176.0755.4908 |
常規(guī)的“攪拌模式/消泡模式"外，增加了新的中間模式。
在保持操作簡便的同時，現(xiàn)在可以選擇適合更廣泛應(yīng)用和材料的模式。
產(chǎn)品介紹
KAKUHUNTER寫真化學(xué) 紅外透射膜厚監(jiān)測儀
KAKUHUNTER寫真化學(xué) 紅外透射膜厚監(jiān)測儀
特征
紅外透射膜厚監(jiān)測儀可測量電池隔膜等半透明片材、黑色抗蝕劑、硅等低反射膜的厚度。這是一款紅外吸收式薄膜測厚儀，可用于從實驗室水平到生產(chǎn)過程中100%在線檢測的所有情況。
這是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過 100 多個波長的光譜同時精確測量薄膜厚度、密度和成分等多個參數(shù)。
1測量半透明片、低反射膜、硅等
的厚度，這是使用光學(xué)干涉測量法難以做到的。
2小型光纖探頭
采用小型30mm反射探頭，
可安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線內(nèi)的狹小空間內(nèi)。另外，探頭
與主體僅通過光纖
連接，因此具有優(yōu)異的耐環(huán)境性。
3高速測量100多個點同時采樣
950至1650 nm的近紅外波長
可以實現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
可在生產(chǎn)線上進(jìn)行實時檢測和測量。
由于不會旋轉(zhuǎn)干涉濾光片等，因此具有出色的耐用性和可靠性。
4厚度測量重復(fù)性0.1%以下（3σ）
5兩種可選的測量算法
測量算法校準(zhǔn)樣品測量目標(biāo)
蘭伯特-比爾法 1 種 僅厚度
最小二乘回歸法 2種以上 多重（厚度、密度、特定成分的混合量等）
測量示例（鋰離子電池隔膜）
可以同時測量厚度和涂層重量。
測量示例（硅基板上的黑色抗蝕劑膜厚）
現(xiàn)在可以測量硅基板上黑色抗蝕劑的厚度，這對于使用反射光譜的光學(xué)干涉膜厚計來說是很難做到的。
代理品牌：CCS晰寫速 SEN日森、EYE巖崎、REVOX萊寶克斯、SERIC索萊克
SONIC索尼克、SANKO三高、NEWKON新光、HAYASHI 林時計、NPM日脈
NS日本科學(xué)、DRY-CABI東利繁、TOKISANGYO東機(jī)、SIBATA柴田、SUGIYAMA杉山
優(yōu)勢品牌：USHIO牛尾、TOPCON拓普康、AITEC艾泰克、FUNATECH船越龍、ORC歐阿西
SAGADEN嵯峨、SAKAZUME坂詰、DNP大日本科研、TOKYO DENSHOKU電色、KKIMAC
S-VANS斯萬斯、ORIHARA折原、LUCEO魯機(jī)歐、HIKARIYA光屋、YAMADA山田光學(xué)
AND艾安得、T&D天特、JIKCO吉高、DKK-TOA東亞電波、OKANO岡野
IMV艾目微、MITUTOYO三豐、KYOWA共和、ONOSOKKI小野、SANEI三榮
HEIDON新東、KURABO倉紡、SHOWA昭和、THINKY新基
SURUGA駿河、ACCRETECH東京精密、SANSYO三商、ITOH伊藤
RKC理化、MACOME碼控美、EIWA榮和、EXCEL艾庫斯、YODOGAWA淀川等
優(yōu)勢產(chǎn)品：日本紫外線照度計、紫外線裝置燈管、LED視覺光源、表面檢查燈、手持檢測燈
變色燈箱、色差儀、鹵素光源裝置、應(yīng)力表面檢查儀、LED光源機(jī)、電子天平、粘度計、膜厚計，恒流泵、采樣泵、PH計、水分計、地震測試儀、脫泡攪拌機(jī)、壓力傳感器、氣體檢測儀，接近開關(guān)、拉拔機(jī)、異音檢測儀、離心機(jī)，下死點檢測裝置、空氣測量泵、應(yīng)變測試儀等期待您的咨詢。
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