目錄:杭州科銘光電科技有限公司>>小麥面粉大米檢測化驗儀器>>谷物分析儀>> KM-YMBX玉米表型檢測儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 食品,農(nóng)業(yè),綜合 |
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玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。儀器可廣泛用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的玉米表型研究！對遺傳育種研究、突變株篩選、植物形態(tài)建模、生長研究等方面起到重要作用。
玉米表型檢測儀適用范圍：
1、玉米株型適用于室內(nèi)盆栽的玉米
2、玉米株高適用于大田玉米株高測量
3、千粒重適用于室內(nèi)考種測量
測量誤差：
1、株高測量范圍: 300-3800mm 精度: 0.5%
2、玉米株型:測量范圍:0-1.8m，株高準確度: 1%，角度參數(shù)精度: 3%，其他參數(shù)準確度:5%
3、 數(shù)粒精度誤差: 2%
硬件配置：
1、手機支架：用于手機固定拍攝
2、背景布：黑色磨砂布面
3、背光板：超薄發(fā)光板
4、數(shù)據(jù)采集器： 超大彩色屏手機
5、玉米株高測量桿： 移動測量式標定桿
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