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          賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐
          參考價: 1221
          訂貨量: 1
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 產品型號
          • Thermofisher Scientific/賽默飛世爾 品牌
          • 代理商 廠商性質
          • 杭州市 所在地

          訪問次數(shù):32更新時間:2024-12-11 23:40:05

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          產品簡介
          供貨周期 現(xiàn)貨 貨號 3600811+3600812
          賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐使其成為科研工作者和實驗室技術人員的理想選擇,為科學分析提供了強有力的支持。
          產品介紹



          賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS(電感耦合等離子體質譜儀) 是一款高性能的分析儀器,廣泛應用于環(huán)境、材料科學、食品安全和生命科學等領域。它的核心組件之一——截取錐(Skimmer Cone) 是 ICP-MS 系統(tǒng)的重要組成部分,直接影響到儀器的性能、檢測靈敏度以及長期穩(wěn)定性。本文將對賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS 截取錐的設計、功能以及優(yōu)勢進行詳細介紹。


          賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐:截取錐的結構與功能

          截取錐是 ICP-MS 儀器中離子引出系統(tǒng)的一部分,通常與采樣錐(Sampling Cone)配合工作。采樣錐將高溫等離子體引導進入抽真空區(qū)域,而截取錐則進一步精確調控離子流,并分離出分析所需的離子,從而保證質量分析的高分辨率和低背景噪聲。

          截取錐在整個 ICP-MS 系統(tǒng)中扮演了以下幾個關鍵角色:

          1. 離子提取與聚焦
            截取錐位于采樣錐之后,通過其中心的小孔將離子束進一步收束并導入后續(xù)的四極桿質量分析儀。截取錐的孔徑、錐角以及材料特性直接決定了離子提取的效率和靈敏度。

          2. 去除中性顆粒與干擾物質
            截取錐能夠有效過濾掉中性顆粒和多余的干擾物質,僅允許特定范圍的離子通過。其過濾作用能夠顯著降低噪聲干擾,提升檢測信號的純凈度。

          3. 維持真空環(huán)境
            截取錐連接等離子體高壓區(qū)和質量分析低壓區(qū),通過精確的設計保證兩者之間的穩(wěn)定壓力差,為質量分析提供適宜的工作環(huán)境。


          賽默飛 iCAP X 系列截取錐的特點

          1. 高性能材料

          賽默飛 iCAP X 系列的截取錐通常采用高純度鉑合金或鎳材料制成。這些材料具有耐高溫性能、化學穩(wěn)定性和抗腐蝕性,能夠長時間承受高溫等離子體的沖擊,延長使用壽命。

          • 鎳錐:性價比高,適用于常規(guī)分析。

          • 鉑合金錐:耐腐蝕性強,適合高鹽或高腐蝕性樣品。

          2. 優(yōu)化的幾何設計

          iCAP X 系列截取錐采用了精確計算的錐角和孔徑設計,使離子聚焦更加高效,最大限度減少信號損失和離子散射。其幾何形狀能夠適應多種類型的樣品,提高多元素分析的靈敏度和穩(wěn)定性。

          3. 高通量與低干擾

          在多樣品分析中,截取錐的通量和抗干擾性能尤為關鍵。賽默飛 iCAP X 截取錐能夠在高樣品通量條件下保持良好的信號穩(wěn)定性,同時通過過濾減少干擾離子進入質譜系統(tǒng),為復雜基質樣品提供分析結果。

          4. 易于更換和維護

          賽默飛 iCAP X 系列的截取錐采用模塊化設計,便于用戶快速更換和清潔。其兼容性和可重復性,能夠有效減少操作時間,提高實驗室的工作效率。


          應用優(yōu)勢

          1. 提高靈敏度和檢測限

          截取錐的高效離子提取能力能夠顯著提高分析靈敏度,使得 iCAP X 系列 ICP-MS 能夠檢測到更低濃度的元素。其在痕量金屬和超痕量元素分析中的表現(xiàn)尤為突出,例如在飲用水、食品安全和醫(yī)藥檢測中的應用。

          2. 降低基體效應

          在復雜基質(如高鹽、礦物、或有機溶劑樣品)的分析中,截取錐的高耐腐蝕性和強抗干擾性能顯得尤為重要。通過有效減少基體干擾,iCAP X 系列 ICP-MS 能夠提供更加準確可靠的分析結果。

          3. 支持多元素同時分析

          賽默飛的截取錐設計經過優(yōu)化,能夠最大限度地提高多元素同時檢測的效率,廣泛適用于地質樣品、材料科學和環(huán)境研究等需要快速多元素檢測的領域。

          4. 延長儀器壽命

          得益于耐用的材料和優(yōu)化的設計,截取錐能夠減少污染和腐蝕對儀器的損害,從而延長 ICP-MS 的整體使用壽命,降低實驗室運營成本。


          維護與注意事項

          為了保證截取錐的長期穩(wěn)定性和高效性能,用戶在日常維護中需要注意以下事項:

          1. 定期清潔
            截取錐表面容易積累樣品中的鹽類和雜質,應定期清潔以維持孔徑的暢通和材料表面的完整性。建議使用專用清潔劑或超聲波清洗儀。

          2. 避免機械損傷
            截取錐的孔徑極為精細,在拆卸和清潔時需小心操作,避免因過度用力或碰撞造成的變形或破損。

          3. 根據樣品類型選擇合適材料
            在分析高鹽或腐蝕性強的樣品時,建議使用鉑合金錐以提高耐用性。對于常規(guī)樣品分析,可選擇性價比較高的鎳錐。

          4. 及時更換耗材
            當截取錐因長期使用而導致性能下降或孔徑磨損時,應及時更換,以確保分析的準確性和儀器的正常運行。


          賽默飛3600811 iCAP X質譜儀截取錐結語

          作為賽默飛 iCAP X 系列 ICP-MS 的核心部件之一,截取錐的設計與性能直接影響到整個儀器的分析效果。其高性能材料、優(yōu)化的幾何結構以及抗干擾能力,使其在痕量元素分析中表現(xiàn)出色,為各類復雜樣品提供了可靠的解決方案。通過合理維護和正確使用,用戶可以充分發(fā)揮截取錐的性能優(yōu)勢,確保 iCAP X 系列 ICP-MS 的長期穩(wěn)定運行。

          賽默飛 iCAP X 截取錐的高質量設計和靈活適應性,使其成為科研工作者和實驗室技術人員的理想選擇,為科學分析提供了強有力的支持。




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