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日本nisshooptical微米深度高度測量裝置返回列表頁

舉報評價

參考價: ￥ 11600

訂貨量: ≥100 臺

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號AFM-30

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地深圳市

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更新時間：2024-10-12 17:19:22瀏覽次數(shù)：197次

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產(chǎn)品分類品牌分類

外觀分析設備: 稱重機焊接機分離器試驗機測量裝置堆焊設備高度計測試儀電阻表測試儀耐壓測試儀水平儀檢查燈光度計測量機檢測儀白度計

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	進口	應用領域	環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合

日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30

這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。
連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。
由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

詳情介紹

日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30 特點介紹

這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。

連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復性。

由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

這是一種狹縫圖像、點光圖像和電子線參考線的中心在測量點處都重合的測量系統(tǒng)，通過檢查錯位，可以防止測量值錯誤。

光切割仰角可根據(jù)應用場合從標準90°至30°、60°、120°中選擇。

日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30 規(guī)格參數(shù)

■ 觀察方法

光學切割法（利用狹縫光學系統(tǒng)測量深度和高度）

■ 物鏡

固定放大倍率：10倍（也可提供5倍和20倍）