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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> 可測低反射膜硅等的厚度膜厚測厚儀
紅外透射膜厚度監(jiān)測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀，可應(yīng)用于從實(shí)驗(yàn)室級(jí)別到生產(chǎn)過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀，采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學(xué)系統(tǒng)，可通過同時(shí)測量 100 多個(gè)波長的光譜儀，準(zhǔn)確測量薄膜厚度、密度、成分等多個(gè)參數(shù)。
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由于使用了 30 毫米的小型反射探頭，
它可以安裝在設(shè)備或生產(chǎn)線的狹小空間內(nèi)。
此外，由于探頭僅通過
光纖連接到主機(jī)，因此具有出色的耐環(huán)境性。
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可實(shí)現(xiàn)短至 1 毫秒的高速采樣。
可以在生產(chǎn)線上進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測和測量。
由于干涉濾光片不旋轉(zhuǎn)，因此具有出色的耐用性和可靠性。
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| 測量算法 | 校準(zhǔn)樣品 | 測量目標(biāo) |
|---|---|---|
| Beer-Lambert 法 | 1 種 | 僅厚度 |
| 最小二乘回歸 | 2 種或更多類型 | 倍數(shù)（厚度、密度、特定成分的混合量等） |
可以同時(shí)測量厚度和涂層重量。
可以測量硅襯底上黑色光刻膠的薄膜厚度，而使用反射光譜法使用光學(xué)干涉涂層測厚儀很難做到這一點(diǎn)
。
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